Микроскопы TESCAN

Увеличение : 1 000 000 unit

... лежит в основе всех приборов TESCAN SEM и FIB-SEM. Оператор, освоивший TESCAN VEGA Compact, может легко перейти на другие микроскопы TESCAN или адаптировать некоторые функции программной среды Essence для соответствия ...

... Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) 4-го поколения TESCAN VEGA с источником электронов с вольфрамовой нитью сочетает в себе визуализацию СЭМ и анализ элементного состава в режиме реального времени в одном окне программного ...

... Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) 4-го поколения TESCAN MIRA с источником электронной эмиссии FEG Schottky сочетает в себе визуализацию СЭМ и анализ элементного состава в режиме реального времени в одном окне программного ...

... Аналитический UHR SEM без поля для определения характеристик материалов в наномасштабе Бескомпромиссная характеризация всех типов материалов в наномасштабе Идеально подходит для определения характеристик материалов при низких энергиях ...

... UHR SEM для определения характеристик наноматериалов в субнанометровом масштабе Высокоразрешающая и высококонтрастная визуализация материалов нового поколения (например, структур катализаторов, нанотрубок, наночастиц и других наноразмерных ...

... оснащенная специальным внутрикамерным микротомом, способна анализировать объемы исключительных для полевой электронной микроскопии размеров - могут быть исследованы блоки объемом почти один кубический миллиметр. Это ...

... Универсальный Ga FIB-SEM для структурного анализа при крио- и комнатной температуре TESCAN AMBER for Life Sciences представляет собой передовое решение Ga FIB-SEM, которое предлагает многофункциональные возможности для структурного анализа ...

... TESCAN AMBER X - это высокопроизводительный растровый электронный микроскоп с фокусированным плазменным ионным пучком (FIB-SEM) для анализа сверхбольших объемов и высокопроизводительных криоприложений. Оснащенный колонной ...

... STEM Аналитическая 4D-спектроскопия Полная картина взаимодействия электронного пучка с образцом 4D-STEM - это метод микроскопии, который выбирают для истинно наноразмерной, мультимодальной характеристики свойств материала, ...

Пространственное разрешение: 600, 3 nm

... Несмотря на постоянно расширяющийся спектр дополнительных возможностей систем микротомографии, основным применением микротомографии остается получение 3D-данных о структуре или составе образца. Независимо от того, используются ли эти ...