＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,6, 0,9 nm
... Электронно-микроскопы Шоттки с полевой эмиссией ( FE- SEM) для визуализации со сверхвысоким разрешением и аналитических исследований Идеальное решение для пользователей, которым требуются как визуализация со сверхвысоким ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,9 nm
... Современный FE- SEM требует не только высокой производительности, но и множества функциональных возможностей, включая широкоугольное наблюдение, анализ in situ, регулируемое давление, визуализацию с высоким разрешением ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 5 unit - 600 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 2,5 nm
... Мощные и универсальные растровые электронные микроскопы ( SEM), разработанные для обеспечения высокой производительности, работы с крупногабаритными образцами и удобной автоматизации процессов визуализации в научных учреждениях и промышленности. Сканирующие ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 1,2, 0,4 nm
... элементного анализа высокого разрешения как в режиме РЭМ, так и в режиме STEM. Особенности продукта: - Комбинация SEM-STEM с ExB-фильтром сигнала SEM и обнаружением сигнала пропускания в зависимости от угла рассеяния - ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,6, 0,9 nm
... эру сканирующих электронных микроскопов Шоттки с ультравысоким разрешением в линейке Hitachi EM. Эта революционная платформа FE- SEM включает в себя многогранную визуализацию, высокий ток зонда, автоматизацию, эффективные ...
Hitachi High-Technologies
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7, 0,6 nm
... сверхвысоким разрешением с холодной полевой эмиссией в давно известном модельном ряду Hitachi EM. Эта революционная платформа CFE- SEM включает в себя многостороннюю визуализацию, автоматизацию, повышенную стабильность системы, эффективные ...
Hitachi High-Technologies
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,9 nm
... Современный FE- SEM требует не только высокой производительности, но и множества функциональных возможностей, включая наблюдение в широкой области, анализ in-situ, переменное давление, получение изображений высокого разрешения ...
Hitachi High-Technologies
... наблюдения и анализа "Neo Action" Наблюдение SEM и анализ EDS можно автоматизировать, просто задав условия анализа и выбрав области для измерения. Пакет автоматической настройки SEM Пакет автоматической настройки SEM ...
Увеличение : 1 unit - 2 500 000 unit
... CIQTEK SEM5000 - это полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп ( FE- SEM, FEG SEM) с высоким разрешением и широкими возможностями. Передовая конструкция колонны, технология ...
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки