Электронно-микроскопы Шоттки с полевой эмиссией (FE-SEM) для визуализации со сверхвысоким разрешением и аналитических исследований
Идеальное решение для пользователей, которым требуются как визуализация со сверхвысоким разрешением, так и аналитические возможности.
Рабочее расстояние для аналитики составляет всего 6 мм.
Отображение до шести каналов изображения одновременно с помощью пользовательского интерфейса с двумя мониторами.
Возможность работы при переменном давлении без использования дополнительных апертур позволяет проводить визуализацию и аналитические исследования на непроводящих образцах.
Расширенная автоматизация для оптимизации рабочих процессов.
Источник с полевой эмиссией Шоттки. Полный диапазон усиления пучка и гибридная электростатико-магнитная объективная линза для субнанометрового разрешения без магнитного взаимодействия с образцом.
Более просторная камера. Вмещает образцы диаметром до 200 мм и высотой до 80 мм.
18 портов доступа к камере, включая два порта для прокладки кабелей в дверце столика, для подключения дополнительных аксессуаров.
Оптимизирована для быстрого (высокопроизводительного) исследования образцов диаметром до 150 мм.
Загрузка образцов осуществляется через стандартную шестидюймовую камеру для замены образцов, в дальнейшем с возможностью установки дополнительного механизма перемещения в инертной среде.
Обзор
Фе-СЭМ SU7000 и SU8700 от Hitachi обеспечивают исключительный баланс между визуализацией сверхвысокого разрешения и аналитическими возможностями. Разработанные для обоих направлений, эти два прибора имеют одинаковую высокопроизводительную электронную оптику и аналитические функции, но отличаются размерами камеры и столика.
Модели SU7000 и SU8700 созданы для решения широкого спектра задач. Их высокояркостный электронный источник с полевой эмиссией Шоттки, возможность многосигнальной визуализации за один проход и опциональная автоматизация рабочего процесса (с использованием программного обеспечения EM Flow Creator) обеспечивают стабильные результаты и превосходную производительность.
---