Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) SU8700
для лабораторийдля исследованийнапольный

Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) - SU8700 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - для лабораторий / для исследований / напольный
Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) - SU8700 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - для лабораторий / для исследований / напольный
Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) - SU8700 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - для лабораторий / для исследований / напольный - изображение - 2
Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) - SU8700 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - для лабораторий / для исследований / напольный - изображение - 3
Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) - SU8700 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - для лабораторий / для исследований / напольный - изображение - 4
Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) - SU8700 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - для лабораторий / для исследований / напольный - изображение - 5
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Тип
с полевой эмиссией катода (FESEM)
Применение
для лабораторий, для исследований
Конфигурация
напольный
Источник электронов
с автоэлектронной эмиссией (эффект Шоттки)
Тип детектора
обратно-рассеянных электронов, вторичных электронов, с энергодисперсионным детектором рентгеновского излучения
Другие характеристики
ультравысокое разрешение, автоматизированный, сканирующий, с переменным давлением
Увеличение

МАКС.: 2 000 000 unit

МИН.: 20 unit

Пространственное разрешение

0,6 nm, 0,9 nm

Описание

Электронно-микроскопы Шоттки с полевой эмиссией (FE-SEM) для визуализации со сверхвысоким разрешением и аналитических исследований Идеальное решение для пользователей, которым требуются как визуализация со сверхвысоким разрешением, так и аналитические возможности. Рабочее расстояние для аналитики составляет всего 6 мм. Отображение до шести каналов изображения одновременно с помощью пользовательского интерфейса с двумя мониторами. Возможность работы при переменном давлении без использования дополнительных апертур позволяет проводить визуализацию и аналитические исследования на непроводящих образцах. Расширенная автоматизация для оптимизации рабочих процессов. Источник с полевой эмиссией Шоттки. Полный диапазон усиления пучка и гибридная электростатико-магнитная объективная линза для субнанометрового разрешения без магнитного взаимодействия с образцом. Более просторная камера. Вмещает образцы диаметром до 200 мм и высотой до 80 мм. 18 портов доступа к камере, включая два порта для прокладки кабелей в дверце столика, для подключения дополнительных аксессуаров. Оптимизирована для быстрого (высокопроизводительного) исследования образцов диаметром до 150 мм. Загрузка образцов осуществляется через стандартную шестидюймовую камеру для замены образцов, в дальнейшем с возможностью установки дополнительного механизма перемещения в инертной среде. Обзор Фе-СЭМ SU7000 и SU8700 от Hitachi обеспечивают исключительный баланс между визуализацией сверхвысокого разрешения и аналитическими возможностями. Разработанные для обоих направлений, эти два прибора имеют одинаковую высокопроизводительную электронную оптику и аналитические функции, но отличаются размерами камеры и столика. Модели SU7000 и SU8700 созданы для решения широкого спектра задач. Их высокояркостный электронный источник с полевой эмиссией Шоттки, возможность многосигнальной визуализации за один проход и опциональная автоматизация рабочего процесса (с использованием программного обеспечения EM Flow Creator) обеспечивают стабильные результаты и превосходную производительность.

---

ВИДЕО

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.