Микроскопы HITACHI

Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,4, 0,7 nm

... Источник излучения холодного поля идеально подходит для получения изображений высокого разрешения при малом размере источника и разбросе энергии. Инновационная технология CFE Gun позволяет создать идеальный FE-SEM с превосходной яркостью ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,6, 0,8, 0,9 nm

... Модель SU8700 открывает новую эру сканирующих электронных микроскопов Шоттки с ультравысоким разрешением в линейке Hitachi EM. Эта революционная платформа FE-SEM включает в себя многогранную визуализацию, высокий ток ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7, 0,6 nm

... Модель SU8600 открывает новую эру сканирующих электронных микроскопов со сверхвысоким разрешением с холодной полевой эмиссией в давно известном модельном ряду Hitachi EM. Эта революционная платформа CFE-SEM включает в ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,8 nm

... другие задачи, предоставляя расширенную информацию для удовлетворения самых разнообразных потребностей в области электронной микроскопии. Познайте наномир с помощью SU7000! *Изображения на мониторах являются врезными.* ...

... в одночасье становятся экспертами. Технология автоматической регулировки осей (автокалибровки) по требованию возвращает микроскоп в его "наилучшее состояние". Прочная "выдвижная" камера для образцов вмещает большие ...

Увеличение : 10 unit - 250 000 unit
Вес: 54 kg
Ширина: 330 mm

... инновациями и передовыми технологиями, которые по-новому определяют возможности настольных микроскопов. Это новое поколение давно известных настольных микроскопов Hitachi (TM) объединяет в себе простоту ...

Пространственное разрешение: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm

... FIB-SEM Hitachi Ethos - это FE-SEM последнего поколения с превосходной яркостью и стабильностью луча. Ethos обеспечивает получение изображений высокого разрешения при низких напряжениях в сочетании с ионной оптикой для прецизионной обработки ...

Пространственное разрешение: 2,1, 1,6 nm

... Новая разработка компании Hitachi - система FIB-SEM NX9000 - имеет оптимизированную компоновку для серийного секционирования с высоким разрешением, что позволяет решать самые современные задачи трехмерного структурного анализа, а также ...

Пространственное разрешение: 60, 4, 2,8, 3,5 nm

... Системы FIB-SEM стали незаменимым инструментом для характеризации и анализа новейших технологий и высокоэффективных наноразмерных материалов. Постоянно растущий спрос на сверхтонкие ламели ТЕМ без артефактов при FIB-обработке требует ...

Пространственное разрешение: 0,3 nm

... это платформа для зондовой микроскопии нового поколения от Hitachi. Системы AFM100 Plus и AFM100, входящие в эту серию, были разработаны для расширения возможностей и повышения производительности атомно-силовой микроскопии, ...