Микроскопы SIM

Увеличение : 10, 20, 25, 40 unit
Пространственное разрешение: 60 nm

... Превосходное разрешение с помощью Lattice SIM² Благодаря SIM² - новому алгоритму реконструкции изображения, поднимающему технологию SIM на новый уровень, - вы можете удвоить обычное ...

Увеличение : 60, 100, 20, 40 unit
Пространственное разрешение: 400 nm - 750 nm

... пробоподготовки или красителей. Ключевые характеристики Разрешение В основе DeepSIM лежит надежная технология многоточечной решетки SIM, позволяющая достичь разрешения 100 нм по оси XY, что в 2 раза больше пространственного ...

Пространственное разрешение: 115, 269 nm

... В N-SIM S используется инновационный подход компании Nikon к технологии микроскопии со структурированным освещением. Благодаря сочетанию этой мощной технологии с известными объективами Nikon, обладающими уникальной числовой ...

Пространственное разрешение: 115, 269 nm

... обеспечивающий такое же высокое разрешение, как и N-SIM S. N-SIM E - это оптимизированная и доступная система суперразрешения, обеспечивающая вдвое большее разрешение, чем обычные световые микроскопы. ...

... JPK NanoWizard® V сочетает в себе высокое пространственно-временное разрешение с большой областью сканирования, гибкость построения эксперимента и отличную интеграцию с современными оптическими микроскопами. Автоматизированная настройка, ...

Пространственное разрешение: 60, 4, 2,8, 3,5 nm

... Системы FIB-SEM стали незаменимым инструментом для характеризации и анализа новейших технологий и высокоэффективных наноразмерных материалов. Постоянно растущий спрос на сверхтонкие ламели ТЕМ без артефактов при FIB-обработке требует ...