＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Пространственное разрешение: 2,8, 60, 4, 3,5 nm
... NX2000 - это FIB-SEM, оптимизированный для применения в полупроводниковой промышленности (анализ дефектов с импортом координат KLARF, извлечение ламелей из ТЕМ, разработка устройств). Благодаря перемещению 205 x 205 мм по осям X,Y стойка ...
... JPK NanoWizard® V сочетает в себе высокое пространственно-временное разрешение с большой областью сканирования, гибкость построения эксперимента и отличную интеграцию с современными оптическими микроскопами. Автоматизированная настройка, ...
Пространственное разрешение: 115, 269 nm
... В N-SIM S используется инновационный подход компании Nikon к технологии микроскопии со структурированным освещением. Благодаря сочетанию этой мощной технологии с известными объективами Nikon, обладающими уникальной числовой ...
Nikon Instruments
Пространственное разрешение: 115, 269 nm
... обеспечивающий такое же высокое разрешение, как и N-SIM S. N-SIM E - это оптимизированная и доступная система суперразрешения, которая обеспечивает вдвое большее разрешение, чем обычные световые микроскопы. ...
Nikon Instruments
Увеличение : 60, 100, 20, 40 unit
Пространственное разрешение: 400 nm - 750 nm
... пробоподготовки или красителей. Ключевые особенности Разрешение DeepSIM использует надежную технику многоточечной решетки SIM, достигающую разрешения 100 нм по оси XY, что в 2 раза больше пространственного разрешения ...
Nikon Instruments
Пространственное разрешение: 60, 4, 2,8, 3,5 nm
... Системы FIB-SEM стали незаменимым инструментом для характеризации и анализа новейших технологий и высокоэффективных наноразмерных материалов. Постоянно растущий спрос на сверхтонкие ламели ТЕМ без артефактов при FIB-обработке требует ...
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось