Микроскоп SEM SU9000 II

TEMПРЭМкриоэлектронный

SU9000 II - это сочетание РЭМ для визуализации поверхности и сканирующего просвечивающего микроскопа (STEM) с разрешением по внутренним структурам, оптимизированное для экстремального разрешения. Это стало возможным благодаря уникальной электронной оптике SU9000 II, которая сочетает в себе эмиттер холодного поля с почти монохроматическим излучением и объективную линзу "inlens". Образец помещается на высокостабильный держатель "бокового входа" практически внутри двухступенчатой объективной линзы. Как и в SU8600, для получения изображений в РЭМ предлагается двухступенчатая детекторная система с энергетической фильтрацией, расширяемая за счет мобильного детектора обратного рассеяния. В режиме просвечивания сигнал TE может быть обнаружен одновременно с РЭМ-изображением выборочно в соответствии с углами рассеяния (светлое поле, переменное темное поле) с разрешением решетки менее 3 Å. Большой безоконный EDX-детектор с телесным углом до 0,7 sr может быть установлен рядом с образцом для элементного анализа высокого разрешения как в режиме РЭМ, так и в режиме STEM. Особенности продукта: - Комбинация SEM-STEM с ExB-фильтром сигнала SEM и обнаружением сигнала пропускания в зависимости от угла рассеяния - Эмиттер холодного поля в сочетании с инлинзовой электронной оптикой обеспечивают разрешение 0,4 нм SE и 0,34 нм TE при ускоряющем напряжении 30 к - Превосходный анализ легких элементов благодаря оптимальной поддержке безоконного EDX-детектора магнитной иммерсионной линзой. Или использование спектрометра энергетических потерь