Микроскоп CFE-SEM SU8600
для исследований3Dнапольный

Микроскоп CFE-SEM - SU8600 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - для исследований / 3D / напольный
Микроскоп CFE-SEM - SU8600 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - для исследований / 3D / напольный
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
CFE-SEM
Применение
для исследований
Метод наблюдения
3D
Конфигурация
напольный
Источник электронов
с холодной полевой эмиссией
Тип детектора
обратно-рассеянных электронов, с энергодисперсионным детектором рентгеновского излучения
Другие характеристики
ультравысокое разрешение, автоматизированный
Увеличение

МИН.: 20 unit

МАКС.: 2 000 000 unit

Пространственное разрешение

0,6 nm, 0,7 nm

Описание

Модель SU8600 является преемником хорошо зарекомендовавшего себя семейства полевых эмиссионных РЭМ Regulus и отвечает самым высоким требованиям, предъявляемым к приложениям, ориентированным на получение изображений. Эмиттер холодного поля с почти монохроматическим излучением в сочетании с магнитной иммерсионной линзой устраняет необходимость в усилении луча. Таким образом, он обеспечивает превосходное разрешение даже при низких энергиях пучка, а также точное стабильное разделение сигналов по углу и энергии пучка. SU8600 CFE-SEM также обеспечивает высочайшую производительность при аналитической работе с использованием специальных детекторов. Например, вы можете добавить безоконные EDX-детекторы для оптимального анализа легких элементов. Они могут использоваться с SU8600 во всем диапазоне энергий пучка до 30 кэВ и на минимальных рабочих расстояниях от 4 мм благодаря магнитной иммерсионной линзе. Или вы можете объединить SEM с детектором Bruker FlatQuad EDX с телесным углом более 1sr для максимальной эффективности сигнала. Доступны токи образцов до 20 нА. Особенности продукта: - Очень прочный, почти монохроматический полевой излучатель Hitachi в сочетании с магнитной иммерсионной линзой - Обширная, гибко настраиваемая система детекторов с тонкой фильтрацией энергии в сочетании с 6-канальным дисплеем изображения в реальном времени обеспечивает всестороннюю оценку образца - Хорошо сочетается с безоконными EDX-детекторами - Надежные автоматизированные функции обеспечивают простоту использования и высокую производительность SEM. Эти функции включают в себя настройку заданных пользователем условий наблюдения, превосходную 2D автофокусировку и автостигматор и т.д. - Камера для смены образцов позволяет быстро и чисто загружать образцы диаметром до 150 мм. 5-осевой эвцентрический штатив для образцов имеет диапазоны перемещения по осям X, Y 110 мм x 110 мм

---

Каталоги

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

CONTROL 2025
CONTROL 2025

6-09 мая 2025 Stuttgart (Германия)

  • Дополнительная информация
    Analytica 2026
    Analytica 2026

    24-27 мар. 2026 München (Германия)

  • Дополнительная информация
    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.