＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 1,2, 0,4 nm
... элементного анализа высокого разрешения как в режиме РЭМ, так и в режиме STEM. Особенности продукта: - Комбинация SEM-STEM с ExB-фильтром сигнала SEM и обнаружением сигнала пропускания в зависимости ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm
... Семейство SU3800/3900 VP-SEM ориентировано на производительность. Эти инструменты автоматизируют повторяющиеся задачи, что позволяет получить воспроизводимые результаты за короткое время при минимальных затратах ручного ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 6, 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4 nm
... FlexSEM II - это настольный/компактный РЭМ для задач визуализации, выходящих за рамки возможностей обычных настольных РЭМ. Это идеальная система для тех, кто не хочет вкладывать деньги в классический РЭМ, но при этом не хочет идти на ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... SAED - Selected Area Electron Diffraction), а также в сканирующих режимах (STEM - Scanning Transmission Electron Microscope и SEM - Scanning Electron Microscope avec BSE - Backscattered Electrons) с нанометровым пространственным ...
Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,4, 0,7 nm
... разрешения при малом размере источника и разбросе энергии. Инновационная технология CFE Gun позволяет создать идеальный FE-SEM с превосходной яркостью и стабильностью пучка, обеспечивающий получение изображений высокого ...
Hitachi High-Technologies
Увеличение : 1 000 000 unit
... полнофункционального графического интерфейса пользователя TESCAN Essence™, который лежит в основе всех приборов TESCAN SEM и FIB-SEM. Оператор, освоивший TESCAN VEGA Compact, может легко перейти на другие ...
TESCAN GmbH
... До сегодняшнего дня выбор доступных по цене, простых в использовании инструментов для работы с изображениями высокого разрешения был ограничен. С нашим электронным микроскопом вы можете наблюдать на субмикронном и нано-масштабе. Наш ...
Увеличение : 150 unit
Пространственное разрешение: 5 nm
... Этот электронный микроскоп - первый настольный SEM премиум-класса, сочетающий в себе 5-осевой полностью моторизованный штатив и большую камеру, позволяющую помещать большие образцы. Высокий вотаж регулируется от 1 до ...
Увеличение : 25 unit - 200 000 unit
Вес: 330 kg
Длина: 835 mm
... FusionScope - это корреляционный АСМ/СЭМ-микроскоп, который был разработан с нуля, чтобы позволить вам легко воспользоваться преимуществами сочетания этих двух методов анализа. Для большинства анализов часто бывает желательно проанализировать ...
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось