Микроскоп электрохимическое сканирование ELP 1

для лабораторийдля исследованийнастольный

HEKA ElProScan - это электрохимический зондовый сканер для различных исследований электрохимически активных поверхностей. Он относится к семейству сканирующих микроскопов, таких как AFM, STM или SECM. Система состоит из трех основных блоков: системы позиционирования, бипотенциостата/гальваностата и системы сбора данных. Система позиционирования перемещает ультрамикроэлектрод в трехмерном пространстве над электрохимически активной поверхностью в растворе. Таким образом, ElProScan может использоваться как обычный SECM, но это гораздо больше, чем просто SECM. Основное отличие заключается в применении любого электрохимического метода (свободно программируемый импульсный протокол) на наконечнике, а не только в регистрации токов наконечника. Во время протокола на образец может быть наложен независимый метод, который будет выполняться одновременно с методом, наложенным на наконечник. Таким образом, ElProScan можно использовать и для активного электрохимического модифицирования поверхности. Система HEKA ElProScan предназначена для решения широкого круга задач, таких как различные виды анализа поверхности, осаждение металлов, осаждение проводящих полимеров, визуализация активности ферментов и каталитических центров и др. HEKA ElProScan представляет собой интегрированную систему, позволяющую управлять всеми компонентами с помощью одного программного обеспечения, и состоит из аппаратных компонентов научного уровня для достижения оптимальной производительности. HEKA ElProScan - единственная система, которая может выполнять измерения в чрезвычайно широком диапазоне токов до 2 А. Она также работает как стандартный (би-)потенциостат/гальваностат, что позволяет использовать ее и для многих других электрохимических приложений.