- Лабораторное дело >
- Медицинская лаборатория >
- Электронный сканирующий микроскоп
Электронные сканирующие микроскопы
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Увеличение : 1 unit - 2 000 000 unit
... ZEISS GeminiSEM - это возможность получения изображений с субнанометровым разрешением. Эти FE-SEM (полевые эмиссионные сканирующие электронные микроскопы) сочетают в себе превосходство в области визуализации и аналитики. Инновации в области ...
ZEISS Microscopy
... Самый маленький ТЭМ в мире.. LVEM5 - это компактный настольный прибор, сочетающий в себе высокое разрешение изображения и малые габариты оптического микроскопа. Он состоит из четырех отдельных частей: микроскопа, электронного блока, ...
Увеличение : 1 000 000 unit
... Доказывая, что начальный уровень не означает компромисс в результатах, TESCAN VEGA Compact предлагает комплексное аналитическое решение для РЭМ-лабораторий, для которых приоритетом является простота управления и быстрое получение высококачественных ...
TESCAN GmbH
... Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) 4-го поколения TESCAN VEGA с источником электронов с вольфрамовой нитью сочетает в себе визуализацию СЭМ и анализ элементного состава в режиме реального времени в одном окне программного обеспечения ...
TESCAN GmbH
... Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) 4-го поколения TESCAN MIRA с источником электронной эмиссии FEG Schottky сочетает в себе визуализацию СЭМ и анализ элементного состава в режиме реального времени в одном окне программного обеспечения ...
TESCAN GmbH
Увеличение : 25 unit - 200 000 unit
Вес: 330 kg
Длина: 835 mm
... FusionScope - это корреляционный АСМ/СЭМ-микроскоп, который был разработан с нуля, чтобы позволить вам легко воспользоваться преимуществами сочетания этих двух методов анализа. Для большинства анализов часто бывает желательно проанализировать ...
Увеличение : 50 unit - 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 3 nm
JIB-PS500i предлагает три решения для подготовки образцов для ПЭМ. Обеспечивается высокая производительность рабочего процесса от пробоподготовки до наблюдения с помощью ПЭМ. Использование картриджа JEOL с двойным наклоном и держателя ...
Jeol
Пространственное разрешение: 0,1 nm
... Электронные микроскопы, называемые SEM (сканирующий электронный микроскоп) и TEM (трансмиссионный электронный микроскоп), обладают самым высоким в мире увеличением и используют короткие волны электронных пучков вместо света для наблюдения ...
Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,4 nm
... Источник излучения холодного поля идеально подходит для получения изображений высокого разрешения при малом размере источника и разбросе энергии. Инновационная технология CFE Gun позволяет получить идеальный FE-SEM с превосходной яркостью ...
Hitachi High-Technologies
... До сегодняшнего дня выбор доступных по цене, простых в использовании инструментов для работы с изображениями высокого разрешения был ограничен. С нашим электронным микроскопом вы можете наблюдать на субмикронном и нано-масштабе. Наш ...
Пространственное разрешение: 1,8, 2,6, 2,5, 4,6, 1 µm
... NPS - это конфокальный точечный датчик белого света в сочетании с высокоточным моторизованным столиком. Он позволяет измерять субмикронную высоту на любом типе поверхности без какого-либо контакта с образцом. Высокоскоростной профиль Перемещая ...
Hirox Europe
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставкиВаши предложения по улучшению услуг:
- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось