Микроскоп SEM SU8700
цифровойс автоэлектронной эмиссией с помощью разверткидля лабораторий

микроскоп SEM
микроскоп SEM
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
цифровой, SEM, с автоэлектронной эмиссией с помощью развертки
Применение
для лабораторий
Конфигурация
настольный
Другие характеристики
высокое разрешение
Увеличение

МИН.: 20 unit

МАКС.: 2 000 000 unit

Описание

Модель SU8700 открывает новую эру сканирующих электронных микроскопов со сверхвысоким разрешением с полевой эмиссией Шоттки в давно известном модельном ряду Hitachi EM. Эта революционная платформа FE-SEM включает в себя многогранную визуализацию, высокий ток зонда, автоматизацию, эффективные рабочие процессы для пользователей с любым уровнем опыта и многое другое. Характеристики Сверхвысокое разрешение и аналитические возможности Эмиттер Шоттки компании Hitachi обеспечивает получение изображений со сверхвысоким разрешением и сверхбыстрый микроанализ при высоком токе зонда. Возможность получения изображений при напряжении 0,1 кВ без смещения каскада расширяет диапазон применения чувствительных к пучку образцов. Множество детекторов и опций позволяют максимально удовлетворить потребности любого пользователя. Улучшенный пользовательский опыт благодаря усовершенствованной автоматизации Программное обеспечение "EM Flow Creator" позволяет пользователям настраивать повторяющиеся последовательности операций РЭМ. Различные функции РЭМ могут быть собраны в окне программы EM Flow Creator методом перетаскивания и затем сохранены в виде рецепта для последующего использования. После настройки рецепта автоматический сбор данных в заданных условиях может быть выполнен с высокой точностью и повторяемостью. Новые возможности дисплея и интерфейса Конфигурация с двумя мониторами обеспечивает гибкое и высокоэффективное рабочее пространство. Одновременное отображение и сохранение 6 сигналов позволяет получить больше информации за меньшее время. Получение информации с высоким разрешением до 40 960 x 30 720 пикселей. Левое верхнее изображение получено с FOV >120 мкм. Поле в виде желтого прямоугольника на этом изображении также показано на правом изображении при увеличении цифрового увеличения. Даже после цифрового увеличения исходного изображения более чем в 20 раз,

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Hitachi High-Technologies

Другие изделия Hitachi High-Technologies

Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.