Микроскоп AFM Nexus™
для лабораторийнаноскопнастольный

Микроскоп AFM - Nexus™  - Bruker Nano Surfaces - для лабораторий / наноскоп / настольный
Микроскоп AFM - Nexus™  - Bruker Nano Surfaces - для лабораторий / наноскоп / настольный
Микроскоп AFM - Nexus™  - Bruker Nano Surfaces - для лабораторий / наноскоп / настольный - изображение - 2
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Тип
AFM
Применение
для лабораторий
Метод наблюдения
наноскоп
Конфигурация
настольный
Опции и аксессуары
моторизованный

Описание

Dimension Nexus™ обеспечивает идеальное сочетание качества данных, гибкости экспериментов и простоты использования в малогабаритной системе. В нем реализованы важнейшие инновации: контроллер NanoScope® 6 от Bruker, технология PeakForce Tapping® и самооптимизирующееся программное обеспечение для обработки изображений ScanAsyst® Plus, что обеспечивает большую функциональность, чем у конкурирующих систем этого класса. Dimension Nexus подходит как для рутинных, так и для пользовательских экспериментов и легко модернизируется в полевых условиях, являясь одновременно отличной стартовой системой и прекрасным дополнением к любой процветающей лаборатории АСМ. Лучший в своем классе производительность Позволяет получать изображения с атомным и молекулярным разрешением. Предельная универсальность и ценность Обеспечивает широкий диапазон режимов AFM. Программируемый моторизованная ступень Повышает производительность для получения готовых к публикации результатов. Характеристики Обеспечивает высокую производительность и ценность каждого сканирования Nexus стабильно генерирует высокоточные, воспроизводимые, готовые к публикации результаты для широкого спектра типов образцов как в исследовательских, так и в промышленных приложениях. Обеспечение высокой производительности Центральным элементом лучших в своем классе возможностей этой системы является уникальное сочетание передового оборудования, программного обеспечения и аксессуаров, включая: Полный набор режимов PeakForce Tapping для получения изображений высочайшего разрешения и количественного картирования механических, электрических и химических свойств на самом широком спектре образцов Контроллер NanoScope 6 последнего поколения с минимальным уровнем шума, высочайшей скоростью и максимальной универсальностью для непревзойденных возможностей и простоты использования Сканер с замкнутым циклом XYZ, мостовая конструкция с компенсацией дрейфа и интегрированное гранитное основание для работы с малыми образцами на АСМ с открытым доступом и большими образцами

---

ВИДЕО

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Bruker Nano Surfaces

Другие изделия Bruker Nano Surfaces

Atomic Force Microscopes

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.