Инфракрасный микроскоп LUMOS II ILIM

инфракрасныйдля лабораторийнастольный

LUMOS II ILIM заново определяет скорость и точность инфракрасной съемки. Благодаря запатентованной технологии инфракрасной лазерной визуализации он обеспечивает получение гиперспектральных данных в темпе, который преобразует рабочие процессы: то, на что раньше уходили месяцы, теперь можно сделать за несколько дней. Он не просто быстрее - он умнее, сочетая в себе автоматизацию, анализ на основе искусственного интеллекта и мультимодальную визуализацию как для исследований, так и для повседневного применения. - Беспрецедентная скорость: 169× быстрее, чем ИК-Фурье-изображения с детекторами FPA. - Большое поле зрения: 2.2 × 2,0 мм при размере пикселя 4,25 мкм / пространственном разрешении. - Полностью автоматизированные аппаратные и программные рабочие процессы. - Рабочие процессы, ориентированные на конкретные приложения: TissuePlus™, TabletPlus™, ParticlePlus™. - Запатентованная технология Spatial Coherence Reduction для получения ИК-изображений без артефактов. - Класс лазерной безопасности 1 с защитой WinGuard™. - Анализ с помощью искусственного интеллекта и интерфейс Python для создания пользовательских рабочих процессов. Разработанный компанией Bruker, этот прибор обеспечивает невероятно высокое качество ИК-изображений благодаря двум преимуществам: высокой числовой апертуре 0,6 и замечательному полю зрения 2,2 мм x 2 мм. Эта запатентованная технология ILIM является переломным моментом в лазерной ИК-визуализации и микроскопии. Она устраняет артефакты пространственной когерентности и позволяет пользователям создавать удивительные химические изображения. LUMOS II известен и любим за его открытый, революционный дизайн. Именно поэтому мы разработали интеллектуальную систему защиты лазера, которая обеспечивает класс лазерной безопасности 1, сохраняя при этом открытый доступ к образцу. LUMOS II ILIM разработан для пропускной способности в рутинных приложениях. Настройка измерений с помощью QR-кода или штрих-кода сокращает возможные узкие места при подготовке образцов и настройке измерений.