Микроскопы высокое разрешение Hitachi

Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,4 nm

... изображений высокого разрешения при малом размере источника и разбросе энергии. Инновационная технология CFE Gun позволяет получить идеальный FE-SEM с превосходной яркостью и стабильностью пучка, обеспечивающий ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit

... эру сканирующих электронных микроскопов со сверхвысоким разрешением с полевой эмиссией Шоттки в давно известном модельном ряду Hitachi EM. Эта революционная платформа FE-SEM включает в себя многогранную ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit

... Модель SU8600 открывает новую эру сканирующих электронных микроскопов со сверхвысоким разрешением с холодной полевой эмиссией в давно известном модельном ряду Hitachi EM. Эта революционная платформа CFE-SEM ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit

... Современный FE-SEM требует не только высокой производительности, но и множества функциональных возможностей, включая наблюдение в широкой области, анализ in-situ, переменное давление, получение изображений высокого ...

Увеличение : 10 unit - 250 000 unit
Вес: 54 kg
Ширина: 330 mm

... по-новому определяют возможности настольных микроскопов. Это новое поколение давно известных настольных микроскопов Hitachi (TM) объединяет в себе простоту использования, оптимизированную визуализацию ...

Пространственное разрешение: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm

... FE-SEM последнего поколения с превосходной яркостью и стабильностью луча. Ethos обеспечивает получение изображений высокого разрешения при низких напряжениях в сочетании с ионной оптикой для прецизионной ...

... разработка компании Hitachi - система FIB-SEM NX9000 - имеет оптимизированную компоновку для серийного секционирования с высоким разрешением, что позволяет решать самые современные задачи трехмерного ...