Микроскопы высокое разрешение Hitachi

2 компании | 19 товаров
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
микроскоп SEM
микроскоп SEM
SU9000 II

Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 1,2, 0,4 nm

... сочетание РЭМ для визуализации поверхности и сканирующего просвечивающего микроскопа (STEM) с разрешением по внутренним структурам, оптимизированное для экстремального разрешения. Это ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SU8700

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,6 nm

... для образцов, SU8700 обеспечивает высокую пропускную способность даже для больших образцов и постоянно чистую среду камеры для образцов, что позволяет получать изображения с низким уровнем загрязнения и высоким ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп CFE-SEM
микроскоп CFE-SEM
SU8600

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7, 0,6 nm

... Модель SU8600 является преемником хорошо зарекомендовавшего себя семейства полевых эмиссионных РЭМ Regulus и отвечает самым высоким требованиям, предъявляемым к приложениям, ориентированным на получение изображений. Эмиттер ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SU7000

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,9 nm

... зондирование, серийные срезы микротома и т. д.). Как и SU8700, SU7000 оснащен универсальной электронной оптикой Hitachi с высоким разрешением и отсутствием поля (состоящей из эмиттера Шоттки и усилителя ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
SU3800/3900 Family

Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm

... Высокоэффективные детекторы Hitachi: -- Детектор вторичных электронов для высокого вакуума -- 5-сегментный полупроводниковый детектор обратнорассеянных электронов для высокого и низкого вакуума, ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
FlexSEM II

Увеличение : 6, 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4 nm

... визуализации и вариативностью детектора. Особенности продукта: - 4 нм @ 20 кВ Электронная оптика высокого разрешения с энергией пучка от 300 до 20 кэВ - Высокий и регулируемый низкий ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп SEM
микроскоп SEM
TM4000PlusIII

Увеличение : 10 unit - 250 000 unit
Длина: 617 mm

... , TM4000 III является прибором начального уровня для сканирующей электронной микроскопии. Он позволяет получать изображения образцов в кратчайшие сроки с хорошим разрешением, глубиной резкости и контрастом ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп ПРЭМ
микроскоп ПРЭМ
HF5000

Увеличение : 20 unit - 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,08, 0,1 nm

... электронов холодной полевой эмиссии с энергетически узкой полосой излучения, идеально подходящий для визуализации с высоким разрешением и EELS - Полностью автоматизированный Cs-корректор Hitachi STEM - ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп TEM
микроскоп TEM
HT7800 Series

Увеличение : 1 000 000, 800 000, 600 000 unit
Пространственное разрешение: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... полюсных насадок, всегда основанных на нашей запатентованной объективной линзе для быстрого переключения между высокой контрастностью и высоким разрешением. Особенности продукта: - 5-осевой ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп FE-SEM
микроскоп FE-SEM
SU3800SE/SU3900SE

Увеличение : 5 unit - 600 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 2,5 nm

... обеспечивает точное позиционирование на больших образцах. Получение изображений с высоким разрешением и автоматическим выравниванием - Полевая эмиссионная оптика Шоттки обеспечивает высокую ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
оптический микроскоп
оптический микроскоп
SU9000II

Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,4, 0,7 nm

... изображений высокого разрешения при малом размере источника и разбросе энергии. Инновационная технология CFE Gun позволяет создать идеальный FE-SEM с превосходной яркостью и стабильностью пучка, обеспечивающий ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Technologies
цифровой микроскоп
цифровой микроскоп
SU8700

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,6, 0,8, 0,9 nm

... эру сканирующих электронных микроскопов со сверхвысоким разрешением с полевой эмиссией Шоттки в давно известном модельном ряду Hitachi EM. Эта революционная платформа FE-SEM включает в себя многогранную ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Technologies
микроскоп SEM
микроскоп SEM
SU8600

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7, 0,6 nm

... Модель SU8600 открывает новую эру сканирующих электронных микроскопов со сверхвысоким разрешением с холодной полевой эмиссией в давно известном модельном ряду Hitachi EM. Эта революционная платформа CFE-SEM ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Technologies
микроскоп SEM
микроскоп SEM
SU7000

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,8 nm

... Современный FE-SEM требует не только высокой производительности, но и множества функциональных возможностей, включая наблюдение в широкой области, анализ in-situ, переменное давление, получение изображений высокого ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Technologies
оптический микроскоп
оптический микроскоп
TM4000Plus II

Увеличение : 10 unit - 250 000 unit
Вес: 54 kg
Ширина: 330 mm

... по-новому определяют возможности настольных микроскопов. Это новое поколение давно известных настольных микроскопов Hitachi (TM) объединяет в себе простоту использования, оптимизированную визуализацию ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Technologies
оптический микроскоп
оптический микроскоп
NX5000

Пространственное разрешение: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm

... FE-SEM последнего поколения с превосходной яркостью и стабильностью луча. Ethos обеспечивает получение изображений высокого разрешения при низких напряжениях в сочетании с ионной оптикой для прецизионной ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Technologies
микроскоп FIB/SEM
микроскоп FIB/SEM
NX9000

Пространственное разрешение: 2,1, 1,6 nm

... разработка компании Hitachi - система FIB-SEM NX9000 - имеет оптимизированную компоновку для серийного секционирования с высоким разрешением, что позволяет решать самые современные задачи трехмерного ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Technologies
презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки