Рамановский микроскоп Icon

AFMдля испытания материаловнастольный

Система Icon AFM-Raman объединяет взаимодополняющие методы атомно-силовой микроскопии и рамановской микроскопии для получения критически важной информации как о топографии, так и о химическом составе образца. Когда эти методы дополняются передовыми режимами АСМ, такими как эксклюзивные для Bruker электрические характеристики PeakForce TUNA™ и количественное наномеханическое картирование PeakForce QNM®, исследователи могут лучше понять механизмы, которые приводят к определенным свойствам материалов. Корреляция АСМ и у-раман данные Позволяет проводить совместные локализованные измерения с непревзойденной эффективностью и простотой. Расширенный Режимы АСМ Помогают исследователям лучше понять механизмы, которые приводят к появлению определенных свойств материалов. Проверенный Устанавливает новый стандарт производительности для возможностей микрорамановских исследований. Стабильность и гибкость конфигурации Система АСМ-Раман, состоящая из АСМ Dimension Icon® и конфокального рамановского микроскопа исследовательского класса (Horiba, LabRam), расположена на единой жесткой антивибрационной платформе. Такая конфигурация позволяет системе поддерживать полную функциональность каждого отдельного прибора, обеспечивая оптимальную совместную работу. Например, конфигурация позволяет использовать полный набор обновлений Icon, режимов АСМ и простых в использовании функций, включая эксклюзивный ScanAsyst® от Bruker. Вы можете подобрать наиболее эффективную комбинацию режимов для ваших задач. Бесшовная интеграция техники и анализа В течение нескольких секунд образец может быть передан между двумя методами без помех. АСМ и спектроскопические измерения одной и той же области образца выполняются последовательно без опасности смещения или неточного расположения элементов.