Оптический микроскоп SU9000II

SEMдля лабораторийпрямой

Источник излучения холодного поля идеально подходит для получения изображений высокого разрешения при малом размере источника и разбросе энергии. Инновационная технология CFE Gun позволяет создать идеальный FE-SEM с превосходной яркостью и стабильностью пучка, обеспечивающий получение изображений высокого разрешения и высококачественный элементный анализ. Для обеспечения стабильного сбора данных при максимальной производительности прибора SU9000II предлагает новые возможности автоматической настройки оптической системы и новый программный пакет EM Flow Creator в качестве опции для автоматизированного сбора данных, в частности, последовательного сбора данных. Кроме того, уникальная конструкция оптической системы позволяет использовать EELS для расширенного анализа материалов. Характеристики Новая конструкция CFE GUN обеспечивает высокую яркость и чрезвычайно стабильный ток излучения. Превосходные характеристики при низком кВ для наблюдения материалов, чувствительных к пучку. Гарантируется разрешение SE 0,7 нм даже при напряжении посадки 1,0 кВ (с функцией замедления). Новые возможности автоматической настройки оптической системы и опциональная функция автоматического сбора данных позволяют осуществлять последовательный сбор данных. Улучшенная вакуумная технология, позволяющая использовать сверхвысокие уровни вакуума для уменьшения загрязнения образцов. Высокотехнологичный корпус прибора, отличающийся повышенной прочностью и стабильностью, позволяет получать изображения высокого разрешения в широком диапазоне условий окружающей среды. Объектив новой конструкции позволяет получать изображения высокого разрешения при низком ускоряющем напряжении. Система смены образцов с боковым входом повышает производительность за счет сокращения времени на смену образцов и автоматического позиционирования образца в текущем WD.