Микроскоп AFM AFM100 Plus

многофункциональныйнебольшого размера

Серия AFM100 - это платформа для зондовой микроскопии нового поколения от Hitachi. Системы AFM100 Plus и AFM100, входящие в эту серию, были разработаны для расширения возможностей и повышения производительности атомно-силовой микроскопии, обеспечивая при этом простую в использовании платформу, подходящую для пользователей с любым уровнем опыта. Оцените высочайшую надежность и инновационность серии AFM100. Характеристики Проблемы, возникающие при работе с обычными консолями - Захватить кантилевер традиционными щипцами сложно из-за его небольшого размера. - Кантилеверы очень легко повредить при незначительном надавливании. - Изменение положения крепления может вызвать проблемы с ориентацией и работой. Предварительно смонтированные консольные рычаги упрощают процесс, повышая его эффективность и согласованность - Простая одноэтапная процедура установки наконечника - Простота в обращении без риска физического повреждения - Гарантированное постоянство ориентации наконечника - Надежные механические и электрические свойства Автоматизированные измерения и анализ с функцией автопилота одним щелчком мыши Выполняйте измерения и анализ одним щелчком мыши! - Автоматическое многоточечное измерение в пределах образца - Непрерывное измерение нескольких образцов ► Общее повышение производительности Автоматическая настройка с помощью RealTune® Il RealTune* II: функция для автоматической настройки параметров ► Автоматизированная оптимизация условий визуализации - SIS: Интеллектуальное сканирование по образцу ► Превосходное отслеживание образца с наконечником даже при работе с поверхностями с высоким соотношением сторон ► Снижение износа датчика и увеличение срока службы Корреляционный SEM-EDS анализ с нашей функцией маркировки АСМ Анализируйте одну и ту же область интереса (ROI) с помощью SEM, EDS и AFM: больше информации = лучшие результаты!