Микроскоп FIB/SEM NX9000

для лабораторийдля исследованийбиологически чистый

Новая разработка компании Hitachi - система FIB-SEM NX9000 - имеет оптимизированную компоновку для серийного секционирования с высоким разрешением, что позволяет решать самые современные задачи трехмерного структурного анализа, а также ТЕМ- и 3DAP-анализа. Система NX9000 FIB-SEM обеспечивает высочайшую точность обработки материалов для широкого спектра областей, связанных с передовыми материалами. Новая система FIB-SEM от Hitachi NX9000 имеет оптимизированную схему для серийного секционирования с истинным высоким разрешением, что позволяет решать самые современные задачи в области трехмерного структурного анализа, а также ТЕМ и 3DAP-анализа. Система NX9000 FIB-SEM обеспечивает высочайшую точность обработки материалов для широкого спектра областей, связанных с перспективными материалами, электронными устройствами, биологическими тканями и множеством других приложений. Характеристики Колонна SEM и колонна FIB расположены ортогонально, что позволяет оптимизировать позиционирование колонны для 3D-структурного анализа. Сочетание высокояркого источника электронов с холодной эмиссией и высокочувствительной оптики позволяет проводить анализ широкого спектра материалов - от биологических тканей до магнитных материалов. Система микроотбора образцов и система Triple Beam обеспечивают высококачественную подготовку образцов для ТЭМ и атомно-зондовых исследований. Ионное фрезерование и наблюдение при нормальном падении в режиме реального времени для получения подлинных аналитических изображений Колонна SEM и колонна FIB расположены ортогонально, что позволяет получать изображения поперечных сечений FIB при нормальном падении SEM. Ортогональное расположение колонн позволяет избежать аспектной деформации, ракурсного искажения изображений поперечных сечений и смещения поля зрения (FOV) во время получения серийных изображений сечений, чего не могут избежать обычные системы FIB-SEM.