Микроскопы FE-SEM Hitachi

2 компании | 6 товаров
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
микроскоп SEM
микроскоп SEM
SU9000 II

Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 1,2, 0,4 nm

... элементного анализа высокого разрешения как в режиме РЭМ, так и в режиме STEM. Особенности продукта: - Комбинация SEM-STEM с ExB-фильтром сигнала SEM и обнаружением сигнала пропускания в зависимости ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SU8700

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,6 nm

... Стандартно оснащенный 150-миллиметровым шлюзом для образцов, SU8700 обеспечивает высокую пропускную способность даже для больших образцов и постоянно чистую среду камеры для образцов, что позволяет получать изображения с низким уровнем ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SU7000

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,9 nm

... SU7000 идеально подходит для работы с большими или тяжелыми образцами и для интеграции широкого спектра аксессуаров. К таким принадлежностям относятся аналитические детекторы или насадки для манипуляций с образцами in-situ (растяжение ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп FE-SEM
микроскоп FE-SEM
SU3800SE/SU3900SE

Увеличение : 5 unit - 600 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 2,5 nm

... РЭМы Hitachi SU3800SE и SU3900SE представляют собой универсальные решения для получения изображений и анализа в различных областях применения. Эти приборы обеспечивают высокое разрешение изображений, интуитивно понятную навигацию и передовую ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
цифровой микроскоп
цифровой микроскоп
SU8700

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,6, 0,8, 0,9 nm

... Модель SU8700 открывает новую эру сканирующих электронных микроскопов со сверхвысоким разрешением с полевой эмиссией Шоттки в давно известном модельном ряду Hitachi EM. Эта революционная платформа FE-SEM ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Technologies
микроскоп SEM
микроскоп SEM
SU8600

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7, 0,6 nm

... SU8600 открывает новую эру сканирующих электронных микроскопов со сверхвысоким разрешением с холодной полевой эмиссией в давно известном модельном ряду Hitachi EM. Эта революционная платформа CFE-SEM ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Technologies
презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки