Микроскоп SEM JSM-IT810

FE-SEMдля медико-биологических наук3D

Универсальность и высокое пространственное разрешение сочетаются с автоматизацией при использовании FE-SEM серии JSM-IT810. Автоматизация получения изображений и EDS-анализа без кодирования встроена для упрощения и повышения эффективности рабочего процесса. Новые функции гарантируют высокое качество данных и улучшенный пользовательский опыт для всех пользователей РЭМ. Среди функций - пакет автоматической настройки SEM, функция коррекции трапеции (полезная для EBSD-измерений) и Live 3D-реконструкция поверхности для наблюдения за топографией поверхности. Эксплуатация FE SEM никогда не была такой простой благодаря серии JSM-IT810. Характеристики Функция автоматического наблюдения и анализа "Neo Action" Наблюдение SEM и анализ EDS можно автоматизировать, просто задав условия анализа и выбрав области для измерения. Пакет автоматической настройки SEM Пакет автоматической настройки SEM (опция): Эта функция использует специальный образец для выполнения калибровки увеличения, выравнивания луча и калибровки энергии EDS. Регулярные проверки позволяют поддерживать оборудование в оптимальном состоянии. Функция Live-3D Выберите наш многосегментный полупроводниковый детектор BSE для создания 3D-реконструкции поверхности образца в реальном времени. Просматривайте 3D-изображение в режиме реального времени, чтобы проверить топологию образца. Интеграция EDS Оперативность нового поколения, устраняющая барьеры между наблюдением с помощью SEM и элементным анализом с помощью EDS. Различные методы анализа, такие как точка, область, MAP и линия, могут быть зарезервированы непосредственно на экране наблюдения, что позволяет немедленно приступить к анализу.