Микроскопы SEM HITACHI

Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,4, 0,7 nm

... разрешения при малом размере источника и разбросе энергии. Инновационная технология CFE Gun позволяет создать идеальный FE-SEM с превосходной яркостью и стабильностью пучка, обеспечивающий получение изображений высокого ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,6, 0,8, 0,9 nm

... Модель SU8700 открывает новую эру сканирующих электронных микроскопов Шоттки с ультравысоким разрешением в линейке Hitachi EM. Эта революционная платформа FE-SEM включает в себя многогранную визуализацию, ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7, 0,6 nm

... SU8600 открывает новую эру сканирующих электронных микроскопов со сверхвысоким разрешением с холодной полевой эмиссией в давно известном модельном ряду Hitachi EM. Эта революционная платформа CFE-SEM ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,8 nm

... Современный FE-SEM требует не только высокой производительности, но и множества функциональных возможностей, включая наблюдение в широкой области, анализ in-situ, переменное давление, получение изображений высокого разрешения ...

Увеличение : 10 unit - 250 000 unit
Вес: 54 kg
Ширина: 330 mm

... инновациями и передовыми технологиями, которые по-новому определяют возможности настольных микроскопов. Это новое поколение давно известных настольных микроскопов Hitachi (TM) объединяет в себе простоту ...

Пространственное разрешение: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm

... FIB-SEM Hitachi Ethos - это FE-SEM последнего поколения с превосходной яркостью и стабильностью луча. Ethos обеспечивает получение изображений высокого разрешения при низких напряжениях в сочетании с ...