Микроскопы TEM Hitachi

4 компании | 13 товаров
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
микроскоп SEM
микроскоп SEM
SU9000 II

Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 1,2, 0,4 nm

... SU9000 II - это сочетание РЭМ для визуализации поверхности и сканирующего просвечивающего микроскопа (STEM) с разрешением по внутренним структурам, оптимизированное для экстремального разрешения. Это стало возможным благодаря ...

микроскоп ПРЭМ
микроскоп ПРЭМ
HF5000

Увеличение : 20 unit - 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,08, 0,1 nm

... HF5000 - это S/TEM с Cs-коррекцией, настраиваемый для экспериментов in-situ. Особенность прибора заключается в использовании детектора Everhart Thornley SE, который позволяет получать изображение поверхности образца при ...

микроскоп TEM
микроскоп TEM
HT7800 Series

Увеличение : 1 000 000, 800 000, 600 000 unit
Пространственное разрешение: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... Семейство HT7800 поддерживает широкий спектр приложений, от биологических наук до материаловедения. Они доступны в трех различных вариантах полюсных насадок, всегда основанных на нашей запатентованной объективной линзе для быстрого переключения ...

микроскоп SEM
микроскоп SEM
LVEM5

... настольный прибор, сочетающий в себе высокое разрешение изображения и малые габариты оптического микроскопа. Он состоит из четырех отдельных частей: микроскопа, электронного блока, вакуумной системы и ...

электронный трансмиссионый микроскоп
электронный трансмиссионый микроскоп
JEM-120i

Увеличение : 50 unit - 1 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0,2, 0,14 nm
Ширина: 840 mm

... Трансмиссионные электронные микроскопы (ТЭМ) с ускоряющим напряжением 120 кВ широко используются в области мягких материалов, таких как биология и полимеры. Мы недавно разработали JEM-120i с концепцией "Компактный", "Простой ...

Показать другие изделия
Jeol
микроскоп TEM
микроскоп TEM
CRYO ARM™ 300

... жидким азотом с боковым входом и автоматической системой замены образцов, представляет собой криоэлектронный микроскоп (криоэлектронный микроскоп). -EM), что позволяет наблюдать за биомолекулами при криотемпературе. ...

Показать другие изделия
Jeol
микроскоп с рентгеновским излучением
микроскоп с рентгеновским излучением
GRAND ARM™2

Пространственное разрешение: 0,05 nm - 0,17 nm

... Новый корпус Колонка TEM закрыта корпусом коробчатого типа, который может уменьшить влияние изменений окружающей среды, таких как температура, поток воздуха, акустический шум и т. д., а затем улучшает стабильность ...

Показать другие изделия
Jeol
микроскоп TEM
микроскоп TEM
JEM-ARM200F NEOARM

Пространственное разрешение: 0,1, 0,07, 0,16, 0,11, 0,25 nm

... улучшенный ABF), облегчающего наблюдение материалов легких элементов даже при низких ускоряющих напряжениях. Комната с микроскопом отделена от операционной, чтобы можно было выполнять удаленные операции. Кроме того, ...

Показать другие изделия
Jeol
оптический микроскоп
оптический микроскоп
JEM-F200

Пространственное разрешение: 0,23, 0,19, 0,16, 0,14 nm

... электронной микроскопии. Он также отличается выдающейся механической и электрической стабильностью, что отражает инженерный опыт JEOL, накопленный за многие годы. Четырехлинзовая конденсорная система Современная ...

Показать другие изделия
Jeol
микроскоп TEM
микроскоп TEM
JEM-2100Plus

Пространственное разрешение: 0,14 nm - 0,19 nm

... эксплуатации Программное обеспечение TEM Center, совместимое с 64-разрядной ОС Windows®, представляет собой интуитивно понятный пользовательский интерфейс, максимально облегчающий работу. Расширенная интеграция TEM ...

Показать другие изделия
Jeol
оптический микроскоп
оптический микроскоп
JEM-2200FS

Увеличение : 2 000 unit - 1 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,1 nm - 0,31 nm

JEM-2200FS, современный аналитический электронный микроскоп, оснащен автоэмиссионной пушкой (FEG) на 200 кВ и энергетическим фильтром в колонке (омега-фильтр), который позволяет получить изображение с нулевыми потерями, ...

Показать другие изделия
Jeol
микроскоп TEM
микроскоп TEM
JEM-1400Flash

Увеличение : 10 unit - 1 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,2, 0,14 nm

... удовлетворить эти потребности, новый электронный микроскоп JEM-120Flash на 1400 кВ оснащен высокочувствительной sCMOS-камерой, системой сверхширокоугольного монтажа и функцией связывания изображений OM (оптический микроскоп). Особенности Высокочувствительная ...

Показать другие изделия
Jeol
оптический микроскоп
оптический микроскоп
NX5000

Пространственное разрешение: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm

... FIB-SEM Hitachi Ethos - это FE-SEM последнего поколения с превосходной яркостью и стабильностью луча. Ethos обеспечивает получение изображений высокого разрешения при низких напряжениях в сочетании с ионной оптикой для прецизионной обработки ...

презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки