Рамановский микроскоп Innova-IRIS
AFMдля испытания материаловнастольный

Рамановский микроскоп - Innova-IRIS - Bruker Nano Surfaces - AFM / для испытания материалов / настольный
Рамановский микроскоп - Innova-IRIS - Bruker Nano Surfaces - AFM / для испытания материалов / настольный
Рамановский микроскоп - Innova-IRIS - Bruker Nano Surfaces - AFM / для испытания материалов / настольный - изображение - 2
Рамановский микроскоп - Innova-IRIS - Bruker Nano Surfaces - AFM / для испытания материалов / настольный - изображение - 3
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
рамановский, AFM
Применение
для испытания материалов
Конфигурация
настольный

Описание

Innova-IRIS сочетает в себе лучшую в отрасли производительность АСМ и эксклюзивные зонды TERS компании Bruker, что позволяет создать единственное в мире комплексное решение для рамановской спектроскопии с усилением наконечника (TERS). Она легко объединяется с микрорамановской системой Renishaw inVia, полностью сохраняя возможности каждого отдельного компонента. В результате получается производительная и полностью интегрированная платформа для корреляционного картирования свойств микро- и наноразмеров, расширяющая границы применения АСМ до наноспектроскопии и нанохимического анализа. Колокализация АСМ и рамановская микроскопия Обеспечивает высокопроизводительный TERS с полным набором возможностей СЗМ. Собственная разработка Зонды TERS Обеспечивают нулевую спектральную интерференцию для высочайшего пространственного разрешения и гарантированной TERS. Оптимизированный аппаратное и программное обеспечение Уменьшение сложности традиционных установок TERS. Разработано специально для обеспечения работы TERS Результаты публикаций доказывают, что геометрия внеосевого отражения является наилучшим решением для максимального захвата света при полном учете эффектов затенения и поляризации наконечника. В Innova-IRIS используется новая оптическая архитектура, обеспечивающая доступ к соединению наконечник-образец с передней стороны зонда, что позволяет создать идеальный оптический тракт, свободный от препятствий. Совместная интеграция сканирующего образца АСМ Bruker Innova с микрорамановской системой Renishaw inVia позволяет сохранить оптическую юстировку "горячей точки" во время сканирования, что отвечает строгим требованиям, предъявляемым к интегрированным TERS-изображениям. Целостность и позиционирование наконечника сохраняются в течение длительного времени интеграции сигнала, необходимого для таких чувствительных исследований.

---

ВИДЕО

Каталоги

Innova
Innova
8 Страницы

Другие изделия Bruker Nano Surfaces

Atomic Force Microscopes

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.