Микроскоп AFM Icon®

для исследованийнапольныйвысокое разрешение

Dimension Icon® компании Bruker обеспечивает высочайший уровень производительности, функциональности и доступности АСМ для исследователей наноразмеров в науке и промышленности. Созданная на базе самой используемой в мире платформы АСМ для работы с большими образцами, она является кульминацией десятилетий технологических инноваций, отзывов клиентов и лучшей в отрасли гибкости применения. Система была спроектирована сверху донизу, чтобы обеспечить революционно низкий дрейф и низкий уровень шума, что позволяет пользователям получать изображения без артефактов за несколько минут, а не часов. Высочайшая производительность сканер наконечника Обеспечивает непревзойденное разрешение больших образцов при уровне шума в открытом контуре, сниженном шумовом дне и дрейфе <200 пм. Простой производительность Удивительно простая настройка, интуитивно понятный рабочий процесс и быстрое получение результатов позволяют всегда получать данные, соответствующие требованиям публикации. Универсальный платформа с открытым доступом Позволяет проводить самые разнообразные эксперименты, режимы, методики и полуавтоматические измерения. ОСОБЕННОСТИ Высочайшая производительность и разрешение Высочайшее разрешение Dimension Icon в сочетании с запатентованными алгоритмами электронного сканирования компании Bruker обеспечивают пользователю значительное повышение скорости и качества измерений. В приборе Icon реализована ведущая в отрасли технология АСМ-сканирования с наконечником, в которой используются термокомпенсирующие датчики положения, обеспечивающие уровень шума в субангромном диапазоне по оси Z и в ангстремах по оси XY. Это исключительные характеристики для системы с большим образцом и 90-микронным диапазоном сканирования, превосходящие уровни шума в открытом контуре АСМ высокого разрешения.