Оптический микроскоп JPK NanoWizard® V
AFMбиологически чистыйдля нано-обработки

оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
оптический, AFM
Применение
для нано-обработки, биологически чистый
Метод наблюдения
SIM, STORM, STED, PALM
Конфигурация
настольный

Описание

JPK NanoWizard® V сочетает в себе высокое пространственно-временное разрешение с большой областью сканирования, гибкость построения эксперимента и отличную интеграцию с современными оптическими микроскопами. Автоматизированная настройка, юстировка и перенастройка параметров системы открывает новые возможности для проведения долгосрочных саморегулирующихся серий экспериментов. Автоматизация Совершенствование работы, повышение производительности Автоматизированная настройка, рабочий процесс и калибровка открывают новые возможности для длительных саморегулируемых серий экспериментов и сложных экспериментальных процедур. NanoMechanics Количественная визуализация Наномеханическая характеристика отдельных молекул, клеток, тканей и очень хрупких образцов благодаря усовершенствованному управлению силой. Быстрое сканирование 400 линий/сек Изучение динамических биологических процессов в реальном времени с помощью адаптивных, интеллектуальных процедур сканирования, быстрого силового картирования и распознавания молекул. Откройте для себя BioAFM 5-го поколения Ожидается, что NanoWizard V значительно расширит наши представления о динамических клеточных процессах и молекулярных механизмах. Его режим PeakForce-QI обеспечивает быстрые и гибкие количественные наномеханические измерения, что значительно расширяет возможности АСМ, а автоматизация, дистанционное управление и быстрое сканирование обеспечивают высокопроизводительную визуализацию даже сложных экспериментов. В NanoWizard V реализованы новые технологии сканеров и датчиков, а также современное программное обеспечение для управления, включающее интуитивно понятный графический интерфейс пользователя (GUI), обеспечивающий простоту и удобство работы с АСМ. Непревзойденная простота использования Скорость для динамики и повышения пропускной способности Автоматизированное картирование и формирование изображений с высокой плотностью пикселей

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Bruker Nano Surfaces

Другие изделия Bruker Nano Surfaces

Atomic Force Microscopes

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.