Оптический микроскоп OT-AFM
AFMдля лабораторийинвертированный

оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
оптический, AFM
Применение
для лабораторий
Эргономика
инвертированный
Метод наблюдения
3D
Другие характеристики
высокое разрешение

Описание

Система OT-AFM Combi-System объединяет исключительные возможности АСМ по измерению поверхностных сил и формированию изображений с возможностями оптического пинцета по приложению и измерению самых малых сил в 3D. Всеобъемлющий Универсальный наноинструментарий Сочетает в себе возможности трехмерного позиционирования, обнаружения и манипулирования OT с возможностями АСМ по получению изображений высокого разрешения и определению свойств поверхности. Мощный Исключительные возможности измерения силы Прикладывайте и измеряйте силы в 2D и 3D в диапазоне от 500 фН до 10 нН на образцах - от одиночных молекул до живых клеток. Наноманипулирование Эффектные приложения для живых клеток Запуск клеточного ответа, изучение взаимодействия клеток и клеточного матрикса, иммунного ответа, инфекции или процессов поглощения бактерий/вирусов/наночастиц. ОСОБЕННОСТИ NanoWizard и NanoTracker - идеальный набор инструментов для визуализации и силовых приложений Система OT-AFM Combi-System объединяет исключительные возможности АСМ по измерению поверхностных сил и формированию изображений с возможностями оптического пинцета по приложению и измерению малых сил в 3D. Комбинированная система отвечает самым высоким требованиям к механической стабильности, гибкости и модульности. Специально разработанный OT-AFM ConnectorStage является ключом к объединению любого АСМ семейства NanoWizard или CellHesion с оптическим пинцетом NanoTracker на инвертированном оптическом микроскопе исследовательского класса. Уникальное сочетание трехмерного позиционирования, обнаружения и манипулирования, обеспечиваемое ОТ, с высоким разрешением изображения и характеристиками свойств поверхности, получаемыми с помощью АСМ, открывает совершенно новый спектр приложений,

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Bruker Nano Surfaces

Другие изделия Bruker Nano Surfaces

Atomic Force Microscopes

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.