Оптический микроскоп NanoWizard® 4 XP NanoScience

атомно-силоваядля лабораторийнастольный

Атомно-силовой микроскоп NanoWizard® 4 XP NanoScience обеспечивает атомное разрешение и большой диапазон сканирования (100 мкм) в одной системе. Он обеспечивает быстрое сканирование со скоростью до 150 линий/с и бесшовную интеграцию с передовыми оптическими методами. Широкий набор режимов и аксессуаров для контроля окружающей среды, картирования наномеханических, электрических, магнитных или тепловых свойств делает эту систему наиболее гибкой из представленных сегодня на рынке. Точность Исследование свойств материалов Механические, тепловые и электрические измерения: Визуализация процессов кристаллизации, плавления, роста и разделения фаз. Модификация образцов с помощью оптической стимуляции, магнитных полей или напряжения. Оптимизированный Идеальная многопользовательская платформа Расширенные опции и функции для опытных пользователей. Широкий набор принадлежностей для исследования проводящих пленок, градиентов магнитных сил и электростатических сил. Производительность 150 линий/с, диапазон сканирования 100 мкм Оптимизированная настройка для повышения производительности. Идеально подходит для динамических экспериментов с высокоструктурными образцами. Быстрое и легкое перемещение по образцу. Высочайшая гибкость в сочетании с высокой производительностью NanoWizard 4 XP NanoScience оснащен рядом новых функций, в том числе: PeakForce Tapping® для упрощения визуализации Возможность быстрого сканирования со скоростью до 150 строк/с Технология NestedScanner для высокоскоростной визуализации поверхностных структур размером до 16,5 мкм с превосходным разрешением и стабильностью Новая функция "плитка" для автоматизированного картирования больших площадей образцов Программное обеспечение V7 с революционно новым пользовательским интерфейсом, основанным на рабочем процессе Программное обеспечение DirectOverlay™ 2 для идеальной интеграции и корреляции данных с передовыми платформами флуоресцентной микроскопии