Атомно-силовая микроскоп Dimension FastScan®

биологически чистыйдля испытания материаловнастольный

Система атомно-силового микроскопа (АСМ) Dimension FastScan® специально разработана для быстрого сканирования без потери разрешения, потери контроля силы, усложнения и дополнительных эксплуатационных расходов. Система FastScan позволяет мгновенно получать АСМ-изображения с высоким разрешением, характерным для высокопроизводительных АСМ. Сканирование с частотой >125 Гц при исследовании образца для поиска интересующей области или со скоростью 1 секунда на кадр изображения в воздухе или жидкости - система FastScan по-новому определяет возможности АСМ. Без компромиссов высокоскоростная производительность Обеспечивает высочайшее разрешение всегда и везде, независимо от размера образца. В режиме реального времени наноразмерная динамика Обеспечивают максимальную скорость и стабильность сканирования наконечника для прямой визуализации динамического поведения в воздухе или жидкости. Автоматизированный настройка, сбор и анализ данных Удивительно простая эксплуатация системы, повышающая производительность, позволяет сосредоточиться на исследованиях. ОСОБЕННОСТИ Эталон высокой скорости и высокого разрешения Dimension FastScan - первая и единственная высокоскоростная система сканирования наконечника, обеспечивающая скорость сканирования кадров в секунду без ущерба для разрешения и производительности системы - независимо от размера образца. Ни одна другая высокоскоростная АСМ не имеет такого большого доступа к образцам, как FastScan. В сочетании с системой PeakForce Tapping® достигается мгновенное измерение силы с линейным контуром управления, что позволяет получать точечные дефекты размерного и механического разрешения, причем не только на твердых, плоских кристаллах. Исключительная производительность Каждая деталь Dimension FastScan - от широкого доступа к наконечнику и образцу до предварительно настроенных параметров программного обеспечения - была специально разработана для безотказной и удивительно простой работы.