Микроскоп AFM NanoWizard® NanoOptics
оптическийрамановскийближнего поля

Микроскоп AFM - NanoWizard® NanoOptics - Bruker Nano Surfaces - оптический / рамановский / ближнего поля
Микроскоп AFM - NanoWizard® NanoOptics - Bruker Nano Surfaces - оптический / рамановский / ближнего поля
Микроскоп AFM - NanoWizard® NanoOptics - Bruker Nano Surfaces - оптический / рамановский / ближнего поля - изображение - 2
Микроскоп AFM - NanoWizard® NanoOptics - Bruker Nano Surfaces - оптический / рамановский / ближнего поля - изображение - 3
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
оптический, рамановский, AFM, ближнего поля, NSOM
Применение
для лабораторий
Метод наблюдения
флуоресцентный
Конфигурация
настольный

Описание

NanoWizard® NanoOptics AFM оптимизирован для широкого спектра приложений, начиная от формирования наноразмерных оптических изображений с помощью апертурных и рассеивающих СНОМ и заканчивая экспериментами, связанными с взаимодействием света с образцом, такими как поглощение, возбуждение, нелинейные эффекты и тушение. Режущая кромка Оптические эксперименты в ближнем поле Сбор одиночных фотонов и разрешение на уровне субдлин волн. Идеально подходит для изучения оптических свойств поверхности, квантовых точек и метаматериалов. Уникальный Наноразмерная оптическая визуализация Бесшовная интеграция с современными методами флуоресценции, рамановской спектроскопии и системами однофотонного счета с временной корреляцией. Встроенный порт для приложений SNOM. Наноманипуляции Эксперименты, определяемые пользователем Корреляционные данные. Высочайшее пространственное разрешение в нанометровом диапазоне. Предназначен для стабильных и жидких приложений. Идеально подходит для приложений BioTERS. ОСОБЕННОСТИ Передовая технология для изучения нанооптических явлений Новая головка NanoWizard® NanoOptics имеет превосходный физический и оптический доступ к образцу сверху и снизу, а также спереди и сбоку, даже когда головка и конденсор находятся на месте. Кроме того, она имеет встроенный порт для применения волоконного SNOM. Поскольку стабильность и воспроизводимость позиционирования и сканирования СЗМ-наконечника крайне важны для приложений, требующих сбора одиночных фотонов в течение длительного времени, система была оптимизирована для этого. Улучшенный замкнутый контур управления по 5 или 6 осям и самая высокая резонансная частота сканера в z обеспечивают производительность сканера, ранее недоступную в коммерческих АСМ. Это обеспечивает высочайшее качество данных при визуализации и силовых измерениях в воздухе и жидкостях.

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Bruker Nano Surfaces

Другие изделия Bruker Nano Surfaces

Atomic Force Microscopes

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.