Атомно-силовая микроскоп Dimension Edge™
для исследованийнастольный

атомно-силовая микроскоп
атомно-силовая микроскоп
атомно-силовая микроскоп
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
атомно-силовая
Применение
для исследований
Конфигурация
настольный

Описание

В системе Dimension Edge™ применена технология PeakForce Tapping® компании Bruker, обеспечивающая высочайший уровень производительности, функциональности и доступности атомно-силового микроскопа (АСМ) в своем классе. Основанная на платформе Dimension Icon, система Edge была разработана сверху донизу, чтобы обеспечить низкий дрейф и низкий уровень шума, необходимые для получения готовых к публикации данных за считанные минуты, а не за несколько часов, и все это при цене, значительно ниже ожидаемой для такой производительности. Встроенная визуальная обратная связь и предварительно настроенные параметры позволяют просто и последовательно получать результаты экспертного уровня, делая самые передовые возможности и методики АСМ больших образцов доступными для каждого предприятия и пользователя. Модульная система микроскоп и электроника Обеспечивает высокую точность изображения и гибкость исследований при умеренной стоимости. Встроенный доступ к маршрутизации сигналов Позволяет проводить пользовательские измерения и расширять исследовательские возможности. Встроенный управление сценой Обеспечивает быструю навигацию по образцу и эффективное проведение измерений в нескольких местах. Точность в замкнутом контуре В основе возможностей этой системы лежит знаменитый сканер Bruker с замкнутым контуром. Благодаря использованию термокомпенсирующих датчиков положения и модульной малошумящей управляющей электроники, этот компонент сканирования наконечника снижает уровень шума при позиционировании в замкнутом контуре до масштаба длины одной химической связи. Большой штатив для образцов Этап для образцов Dimension Edge не только моторизован и программируется для проведения эффективных многоплоскостных измерений, но и позволяет помещать большее количество образцов непосредственно под АСМ-сканер с меньшими затратами времени на подготовку.

---

Каталоги

AFM Dimension Edge
AFM Dimension Edge
8 Страницы

Другие изделия Bruker Nano Surfaces

Atomic Force Microscopes

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.