Микроскоп SEM VEGA

для лабораторийдля испытания материаловдля контроля

Доказывая, что начальный уровень не означает компромисс в результатах, TESCAN VEGA Compact предлагает комплексное аналитическое решение для РЭМ-лабораторий, для которых приоритетом является простота управления и быстрое получение высококачественных изображений и композиционного (EDS) анализа. TESCAN VEGA Compact имеет упрощенную конфигурацию, включающую только наиболее важные компоненты для эффективного сбора морфологических и элементных данных, что позволяет TESCAN VEGA Compact занимать меньшую площадь в лаборатории. Благодаря возможности размещения крупногабаритных образцов, распространенных в промышленности, материаловедении и полупроводниковой промышленности - таких как металлургические сечения, сварные конструкции или печатные платы - TESCAN VEGA Compact является отличным выбором не только для текущих задач контроля материалов, контроля качества и анализа отказов, но и для будущих аналитических потребностей. TESCAN VEGA Compact работает на основе собственного полнофункционального графического интерфейса пользователя TESCAN Essence™, который лежит в основе всех приборов TESCAN SEM и FIB-SEM. Оператор, освоивший TESCAN VEGA Compact, может легко перейти на другие микроскопы TESCAN или адаптировать некоторые функции программной среды Essence для соответствия графическому интерфейсу других приборов в лаборатории. Ключевые преимущества Обрабатывайте образцы быстрее благодаря большой камере VEGA Compact, которая обеспечивает пространство для анализа нескольких образцов или больших проб, а также настоящий высокий вакуум для получения надежных результатов EDS Легко получать данные о составе и напрямую соотносить их с изображением РЭМ с помощью функции наложения, предоставляемой дополнительным, полностью интегрированным прибором Essence™ EDS компании TESCAN