Оптический микроскоп VEGA

SEMдля контролядля лабораторий

Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) 4-го поколения TESCAN VEGA с источником электронов с вольфрамовой нитью сочетает в себе визуализацию СЭМ и анализ элементного состава в режиме реального времени в одном окне программного обеспечения Essence™ компании TESCAN. Такое сочетание значительно упрощает получение как морфологических, так и элементных данных с образца, что делает РЭМ VEGA эффективным аналитическим решением для рутинного контроля материалов в лабораториях контроля качества, анализа отказов и исследований. Аналитическая платформа с полностью интегрированной системой TESCAN Essence™ EDS, которая эффективно сочетает визуализацию РЭМ с анализом элементного состава в одном окне программного обеспечения Essence™. Оптимальные условия визуализации и анализа сразу же доступны благодаря уникальной оптической конструкции TESCAN без диафрагмы, работающей на основе технологии In-flight Beam Tracing™. Легкая и точная навигация SEM по образцу при увеличении до 2× без необходимости использования дополнительной оптической навигационной камеры благодаря уникальной конструкции Wide Field Optics™. Режим SingleVac™ в качестве стандартной функции для наблюдения заряженных и чувствительных к пучку образцов. Интуитивно понятное и модульное программное обеспечение Essence™, разработанное для легкой работы независимо от уровня опыта пользователя. Максимальная безопасность установленных в камере детекторов при движении столика и образца гарантируется моделью Essence™ 3D Collision. Опциональный вакуумный буфер значительно сокращает время работы вакуумного роторного насоса, обеспечивая экологические и экономические преимущества. Модульная аналитическая платформа, которая может быть опционально оснащена широчайшим выбором полностью интегрированных детекторов (например, CL, BSE с водяным охлаждением или RAMAN спектрометр).