Оптический микроскоп CLARA

SEMдля биологиидля контроля

Аналитический UHR SEM без поля для определения характеристик материалов в наномасштабе Бескомпромиссная характеризация всех типов материалов в наномасштабе Идеально подходит для определения характеристик материалов при низких энергиях пучка для получения максимальной топографии поверхности Отличная визуализация чувствительных к пучку и непроводящих образцов Полностью автоматизированная настройка электронного пучка - оптимальные условия визуализации гарантируются системой In-Flight Beam Tracing™ Интуитивно понятная навигация по образцу в режиме реального времени при увеличении до 2× без использования дополнительной оптической навигационной камеры благодаря конструкции Wide Field Optics™ Уникальная многодетекторная конструкция внутри луча, обеспечивающая селективное обнаружение BSE по углу и энергии Интуитивно понятная модульная платформа программного обеспечения, разработанная для легкой работы независимо от уровня квалификации пользователей