UHR SEM для определения характеристик наноматериалов в субнанометровом масштабе
Высокоразрешающая и высококонтрастная визуализация материалов нового поколения (например, структур катализаторов, нанотрубок, наночастиц и других наноразмерных структур)
Превосходная платформа для метрологии SEM/STEM в суб-нанометровом масштабе
Быстрая настройка электронного пучка - оптимальные условия визуализации гарантируются системой In-Flight Beam Tracing™
Многодетекторная система TriBE™ и TriSE™ для нанохарактеризации образцов
Интуитивно понятная программная модульная платформа, разработанная для легкой работы независимо от уровня квалификации пользователей
---