Микроскоп SEM MAGNA
ПРЭМдля испытания материаловнастольный

Микроскоп SEM - MAGNA - TESCAN GmbH - ПРЭМ / для испытания материалов / настольный
Микроскоп SEM - MAGNA - TESCAN GmbH - ПРЭМ / для испытания материалов / настольный
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
SEM, ПРЭМ
Применение
для испытания материалов
Конфигурация
настольный
Другие характеристики
высокое разрешение

Описание

UHR SEM для определения характеристик наноматериалов в субнанометровом масштабе Высокоразрешающая и высококонтрастная визуализация материалов нового поколения (например, структур катализаторов, нанотрубок, наночастиц и других наноразмерных структур) Превосходная платформа для метрологии SEM/STEM в суб-нанометровом масштабе Быстрая настройка электронного пучка - оптимальные условия визуализации гарантируются системой In-Flight Beam Tracing™ Многодетекторная система TriBE™ и TriSE™ для нанохарактеризации образцов Интуитивно понятная программная модульная платформа, разработанная для легкой работы независимо от уровня квалификации пользователей

---

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.