Устройства подготовки проб для электронной микроскопии Hitachi

2 компании | 5 товаров
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
автоматическое устройство подготовки проб
автоматическое устройство подготовки проб
ZONETEM II

... Пользователи SEM и STEM / TEM знают эту проблему: получение изображений высокого разрешения часто ухудшается (а то и вовсе становится невозможным) из-за быстрого образования углеродной пленки в зоне наблюдения. ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
автоматическое устройство подготовки проб
автоматическое устройство подготовки проб
ZONESEM II

... Пользователи SEM и STEM / TEM знают эту проблему: получение изображений высокого разрешения часто ухудшается (а то и вовсе становится невозможным) из-за быстрого образования углеродной пленки в зоне наблюдения. ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
автоматическое устройство подготовки проб
автоматическое устройство подготовки проб
IM4000 II

... скорости удаления Si 500 мкм/час (6 кэВ, выступ за край маски 100 мкм, колебания столика ±30°). Доступны такие функции, как автоматический запуск/выбор времени, интервальная полировка или двухэтапные процессы. В IM4000 ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
автоматическое устройство подготовки проб
автоматическое устройство подготовки проб
ArBlade 5000 / IM5000-CTC

... ArBlade 5000 / IM5000 расширяет возможности поперечных срезов серии IM4000 II за счет возможности увеличения поперечных срезов до 10 мм в ширину, в зависимости от фактических требований. Для этого образец периодически перемещается в поперечном ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
устройство подготовки проб для электронной микроскопии
устройство подготовки проб для электронной микроскопии
ZONESEMII

... получении изображений с помощью электронной микроскопии. Обзор Подготовка, обработка или хранение образцов в атмосферных условиях может привести к накоплению углеводородов на образце, ...

презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки