Устройства подготовки проб для электронной микроскопии Hitachi

5 компании | 12 товаров
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
автоматическое устройство подготовки проб
автоматическое устройство подготовки проб
ZONETEM II

... Пользователи SEM и STEM / TEM знают эту проблему: получение изображений высокого разрешения часто ухудшается (а то и вовсе становится невозможным) из-за быстрого образования углеродной пленки в зоне наблюдения. ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
автоматическое устройство подготовки проб
автоматическое устройство подготовки проб
ZONESEM II

... Пользователи SEM и STEM / TEM знают эту проблему: получение изображений высокого разрешения часто ухудшается (а то и вовсе становится невозможным) из-за быстрого образования углеродной пленки в зоне наблюдения. ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
автоматическое устройство подготовки проб
автоматическое устройство подготовки проб
IM4000 II

... скорости удаления Si 500 мкм/час (6 кэВ, выступ за край маски 100 мкм, колебания столика ±30°). Доступны такие функции, как автоматический запуск/выбор времени, интервальная полировка или двухэтапные процессы. В IM4000 ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
автоматическое устройство подготовки проб
автоматическое устройство подготовки проб
ArBlade 5000 / IM5000-CTC

... ArBlade 5000 / IM5000 расширяет возможности поперечных срезов серии IM4000 II за счет возможности увеличения поперечных срезов до 10 мм в ширину, в зависимости от фактических требований. Для этого образец периодически перемещается в поперечном ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
автоматизированное устройство подготовки проб
автоматизированное устройство подготовки проб
QG-3100

... способную контрастировать до 40 сеток за один проход. Она проста в использовании, программируема и экономична. Автоматическое окрашивающее устройство QG-3100 повышает как качество окрашивания, так ...

Показать другие изделия
Boeckeler Instruments, Inc.
автоматизированное устройство подготовки проб
автоматизированное устройство подготовки проб
EMP-5160

Показать другие изделия
Boeckeler Instruments, Inc.
автоматическое устройство подготовки проб
автоматическое устройство подготовки проб
EM KMR3

... Leica EM KMR3 обеспечивает идеальные ножи для стекла трех толщин - 6,4 мм, 8 мм и 10 мм. С момента выпуска первого в мире устройства для изготовления стеклянных ножей в 1962 году компания Leica Microsystems постоянно ...

автоматическое устройство подготовки проб
автоматическое устройство подготовки проб
EM TIC 3X

... фрезерования с тройным ионным пучком EM TIC 3X позволяет получать поперечные сечения и планарные поверхности для сканирующей электронной микроскопии (СЭМ), анализа микроструктуры (EDS, WDS, Auger, EBSD) ...

автоматическое устройство подготовки проб
автоматическое устройство подготовки проб
POLISHER™

... CROSS SECTION POLISHER™ (CP) - это устройство для подготовки поперечного среза образца к электронной микроскопии. Поскольку поперечный срез готовится с помощью ионного ...

Показать другие изделия
Jeol
автоматическое устройство подготовки проб
автоматическое устройство подготовки проб
POLISHER™

... высококачественных поперечных сечений за короткий период времени. Прерывистая обработка также может быть запрограммирована для улучшения подготовки материалов с низкой температурой плавления и чувствительных к облучению ...

Показать другие изделия
Jeol
автоматическое устройство подготовки проб
автоматическое устройство подготовки проб
POLISHER™

... поверхностном слое, а также сгладить поверхность. Он также идеально подходит для селективного травления. Комплект для подготовки поперечного сечения Это комплект для выполнения измельчения ионным пучком при вращении ...

Показать другие изделия
Jeol
устройство подготовки проб для электронной микроскопии
устройство подготовки проб для электронной микроскопии
ZONESEMII

... получении изображений с помощью электронной микроскопии. Обзор Подготовка, обработка или хранение образцов в атмосферных условиях может привести к накоплению углеводородов на образце, ...

презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки