- Лабораторное дело >
- Подготовка образцов >
- Устройство подготовки проб для электронной микроскопии
Устройства подготовки проб для электронной микроскопии
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Пользователи SEM и STEM / TEM знают эту проблему: получение изображений высокого разрешения часто ухудшается (а то и вовсе становится невозможным) из-за быстрого образования углеродной пленки в зоне наблюдения. Обычно это вызвано газообразными углеводородами, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Пользователи SEM и STEM / TEM знают эту проблему: получение изображений высокого разрешения часто ухудшается (а то и вовсе становится невозможным) из-за быстрого образования углеродной пленки в зоне наблюдения. Обычно это вызвано газообразными углеводородами, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
автоматическое устройство подготовки пробIM4000 II
... IM4000 II - это модульная аргонно-ионная полировальная система с компьютерным управлением, которая может быть оснащена как чисто поверхностный полировальник, как полировальник поперечного сечения или как гибридная система, в зависимости от требуемой функциональности. ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... ArBlade 5000 / IM5000 расширяет возможности поперечных срезов серии IM4000 II за счет возможности увеличения поперечных срезов до 10 мм в ширину, в зависимости от фактических требований. Для этого образец периодически перемещается в поперечном направлении ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
автоматизированное устройство подготовки пробQG-3100
... Автоматизированный электромагнитный контейнер После ультрамикротомии большинство секций требуют контраста со свинцовыми и ураниловыми солями. При неправильном обращении и то, и другое может привести к образованию осадочных пород во время процесса контрастирования Для ...
Boeckeler Instruments, Inc.
Boeckeler Instruments, Inc.
автоматическое устройство подготовки пробEM KMR3
... Сбалансированный метод разрушения Leica EM KMR3 обеспечивает идеальные ножи для стекла трех толщин - 6,4 мм, 8 мм и 10 мм. С момента выпуска первого в мире устройства для изготовления стеклянных ножей в 1962 году компания Leica Microsystems постоянно ...
... Обновленная версия EM TIC 3X основана на нашем девизе "с пользователем для пользователя", сочетая в себе производительность и гибкость в практически актуальном виде. Удвоенная скорость ионного фрезерования новейшей модели EM TIC 3X может быть еще больше ...
устройство подготовки проб для электронной микроскопииZONESEMII
... Настольный очиститель образцов ZONESEMII использует технологию очистки на основе ультрафиолетового излучения для минимизации или устранения углеводородного загрязнения при получении изображений с помощью электронной микроскопии. Обзор Подготовка, обработка ...
автоматическое устройство подготовки пробPOLISHER™
... CROSS SECTION POLISHER™ (CP) - это устройство для подготовки поперечного среза образца к электронной микроскопии. Поскольку поперечный срез готовится с помощью ионного пучка, можно получить качественный поперечный срез за более короткое время без индивидуальных ...
Jeol
IB-19530CP имеет инновационную многоцелевую платформу для удовлетворения все более разнообразных потребностей рынка и реализации многофункциональности с помощью различных типов функциональных держателей. Многоцелевой предметный столик в сочетании со специализированными ...
Jeol
Термическое повреждение можно уменьшить, охлаждая образец жидким азотом во время обработки. Разработан для снижения расхода жидкого азота, обеспечивая длительные периоды охлаждения. Быстрое охлаждение образца при погружении в жидкий азот. Вернуться к ...
Jeol
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo