- Лабораторное дело >
- Подготовка образцов >
- Устройство подготовки проб для электронной микроскопии
Устройства подготовки проб для электронной микроскопии
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}

... Пользователи SEM и STEM / TEM знают эту проблему: получение изображений высокого разрешения часто ухудшается (а то и вовсе становится невозможным) из-за быстрого образования углеродной пленки в зоне наблюдения. Обычно это вызвано газообразными ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH

... Пользователи SEM и STEM / TEM знают эту проблему: получение изображений высокого разрешения часто ухудшается (а то и вовсе становится невозможным) из-за быстрого образования углеродной пленки в зоне наблюдения. Обычно это вызвано газообразными ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH


автоматическое устройство подготовки пробIM4000 II
... IM4000 II - это модульная аргонно-ионная полировальная система с компьютерным управлением, которая может быть оснащена как чисто поверхностный полировальник, как полировальник поперечного сечения или как гибридная система, в зависимости ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH

... ArBlade 5000 / IM5000 расширяет возможности поперечных срезов серии IM4000 II за счет возможности увеличения поперечных срезов до 10 мм в ширину, в зависимости от фактических требований. Для этого образец периодически перемещается в поперечном ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH


автоматизированное устройство подготовки пробQG-3100
... Автоматизированный электромагнитный контейнер После ультрамикротомии большинство секций требуют контраста со свинцовыми и ураниловыми солями. При неправильном обращении и то, и другое может привести к образованию осадочных пород во время ...
Boeckeler Instruments, Inc.

Boeckeler Instruments, Inc.


автоматическое устройство подготовки пробEM KMR3
... Сбалансированный метод разрушения Leica EM KMR3 обеспечивает идеальные ножи для стекла трех толщин - 6,4 мм, 8 мм и 10 мм. С момента выпуска первого в мире устройства для изготовления стеклянных ножей в 1962 году компания Leica Microsystems ...

... Обновленная версия EM TIC 3X основана на нашем девизе "с пользователем для пользователя", сочетая в себе производительность и гибкость в практически актуальном виде. Удвоенная скорость ионного фрезерования новейшей модели EM TIC 3X может ...


устройство подготовки проб для электронной микроскопииZONESEMII
... Настольный очиститель образцов ZONESEMII использует технологию очистки на основе ультрафиолетового излучения для минимизации или устранения углеводородного загрязнения при получении изображений с помощью электронной микроскопии. Обзор Подготовка, ...
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставкиВаши предложения по улучшению услуг:
- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось