＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Бережное и эффективное удаление углеводородов для получения более четких изображений при сканирующей электронной микроскопии (SEM) и просвечивающей электронной микроскопии (TEM) Очистка с использованием ультрафиолета, не требующая применения химикатов ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Настольный очиститель образцов ZONESEMII использует технологию очистки на основе ультрафиолетового излучения для минимизации или полного устранения углеводородного загрязнения при получении изображений с помощью электронной микроскопии. Обзор Подготовка, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
автоматическое устройство подготовки пробIM4000 II
... Высокая скорость фрезерования: быстрая и эффективная подготовка образцов из твердых материалов Фрезерование поперечных сечений и плоских поверхностей: гибкие возможности для различных задач Криогенное охлаждение (опция): снижает риск повреждения термочувствительных ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Самая передовая система с широким ионным пучком для получения образцов с поперечным сечением или плоских фрезерованных образцов исключительно высокого качества для электронной микроскопии. Характеристики Скорость фрезерования поперечного сечения: 1 ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Автоматизированный электромагнитный контейнер После ультрамикротомии большинство секций требуют контраста со свинцовыми и ураниловыми солями. При неправильном обращении и то, и другое может привести к образованию осадочных пород во время процесса контрастирования Для ...
Boeckeler Instruments, Inc.
Boeckeler Instruments, Inc.
... Создавайте высококачественные фрезерованные поверхности с помощью трех широких лучей, что позволяет раскрыть истинную структуру образцов для последующего анализа с помощью электронной микроскопии. Универсальная и гибкая система EM TIC 3X поддерживает ...
... Сбалансированный метод разрушения Leica EM KMR3 обеспечивает идеальные ножи для стекла трех толщин - 6,4 мм, 8 мм и 10 мм. С момента выпуска первого в мире устройства для изготовления стеклянных ножей в 1962 году компания Leica Microsystems постоянно ...
... Настольный очиститель образцов ZONESEMII использует технологию очистки на основе ультрафиолетового излучения для минимизации или устранения углеводородного загрязнения при получении изображений с помощью электронной микроскопии. Обзор Подготовка, обработка ...
... CROSS SECTION POLISHER™ (CP) - это устройство для подготовки поперечного среза образца к электронной микроскопии. Поскольку поперечный срез готовится с помощью ионного пучка, можно получить качественный поперечный срез за более короткое время без индивидуальных ...
Jeol
IB-19530CP имеет инновационную многоцелевую платформу для удовлетворения все более разнообразных потребностей рынка и реализации многофункциональности с помощью различных типов функциональных держателей. Многоцелевой предметный столик в сочетании со специализированными ...
Jeol
Термическое повреждение можно уменьшить, охлаждая образец жидким азотом во время обработки. Разработан для снижения расхода жидкого азота, обеспечивая длительные периоды охлаждения. Быстрое охлаждение образца при погружении в жидкий азот. Вернуться к ...
Jeol
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки