Автоматическое устройство подготовки проб ZONETEM II
для лабораторийдля электронной микроскопииTEM

Автоматическое устройство подготовки проб - ZONETEM II - Hitachi High-Tech Europe GmbH - для лабораторий / для электронной микроскопии / TEM
Автоматическое устройство подготовки проб - ZONETEM II - Hitachi High-Tech Europe GmbH - для лабораторий / для электронной микроскопии / TEM
Автоматическое устройство подготовки проб - ZONETEM II - Hitachi High-Tech Europe GmbH - для лабораторий / для электронной микроскопии / TEM - изображение - 2
Автоматическое устройство подготовки проб - ZONETEM II - Hitachi High-Tech Europe GmbH - для лабораторий / для электронной микроскопии / TEM - изображение - 3
Автоматическое устройство подготовки проб - ZONETEM II - Hitachi High-Tech Europe GmbH - для лабораторий / для электронной микроскопии / TEM - изображение - 4
Автоматическое устройство подготовки проб - ZONETEM II - Hitachi High-Tech Europe GmbH - для лабораторий / для электронной микроскопии / TEM - изображение - 5
Автоматическое устройство подготовки проб - ZONETEM II - Hitachi High-Tech Europe GmbH - для лабораторий / для электронной микроскопии / TEM - изображение - 6
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Режим использования
автоматическое
Применение
для лабораторий, для электронной микроскопии, TEM
Тип подготовки
для очистки
Тип образцов
для поверхности
Конфигурация
настольное

Описание

Бережное и эффективное удаление углеводородов для получения более четких изображений при сканирующей электронной микроскопии (SEM) и просвечивающей электронной микроскопии (TEM) Очистка с использованием ультрафиолета, не требующая применения химикатов или подачи газа Быстрое и безопасное для образцов удаление углеводородных загрязнений Интерфейс с сенсорным экраном и памятью рецептов для удобства и воспроизводимости результатов Двойная функция: очистка и хранение образцов в одном устройстве Очистка с регулируемым вакуумом, подходящая для различных типов образцов Обзор Углеводородные загрязнения являются одним из наиболее распространённых препятствий для получения высококачественных изображений при сканирующей электронной микроскопии (SEM) и просвечивающей электронной микроскопии (TEM). Независимо от того, попали ли эти углеродные остатки в образец во время его подготовки или накопились в процессе получения изображений, они могут скрывать мелкие детали, искажать данные и приводить к потере драгоценного времени. Ультрафиолетовые очистители образцов Hitachi ZoneSEM II и ZoneTEM II обеспечивают безопасный, эффективный и не требующий использования химикатов способ удаления этих загрязнений — прямо на вашем лабораторном столе. Используя низкоэнергетический ультрафиолетовый свет и активированный кислород, эти компактные устройства бережно очищают ваши образцы, не повреждая хрупкие структуры и не изменяя свойства поверхности. Особенности и преимущества Очистители ZoneSEM II и ZoneTEM II используют УФ-лампы для разрыва углеводородных связей. В присутствии кислорода используемые длины волн генерируют озон и активные формы кислорода, которые окисляют углеводороды до летучих соединений, таких как CO₂ и H₂O, безопасно удаляя их без использования растворителей, реагентов или подачи газа. Встроенный насос обеспечивает регулируемый вакуум, позволяя пользователям контролировать интенсивность очистки. Таким образом, вы можете оптимизировать процесс в зависимости от вашего образца. Удобный сенсорный интерфейс упрощает выбор и запуск протоколов очистки. Благодаря памяти рецептов вы можете сохранять и вызывать настройки процесса — это идеальное решение для лабораторий с несколькими пользователями или для рутинных рабочих процессов.

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Hitachi High-Tech Europe GmbH
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.