Напольные микроскопы Hitachi

2 компании | 13 товаров
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
микроскоп SEM
микроскоп SEM
SU9000 II

Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 1,2, 0,4 nm

... SU9000 II - это сочетание РЭМ для визуализации поверхности и сканирующего просвечивающего микроскопа (STEM) с разрешением по внутренним структурам, оптимизированное для экстремального разрешения. Это стало возможным благодаря ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SU8700

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,6 nm

... Стандартно оснащенный 150-миллиметровым шлюзом для образцов, SU8700 обеспечивает высокую пропускную способность даже для больших образцов и постоянно чистую среду камеры для образцов, что позволяет получать изображения с низким уровнем ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп CFE-SEM
микроскоп CFE-SEM
SU8600

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7, 0,6 nm

... Модель SU8600 является преемником хорошо зарекомендовавшего себя семейства полевых эмиссионных РЭМ Regulus и отвечает самым высоким требованиям, предъявляемым к приложениям, ориентированным на получение изображений. Эмиттер холодного ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SU7000

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,9 nm

... SU7000 идеально подходит для работы с большими или тяжелыми образцами и для интеграции широкого спектра аксессуаров. К таким принадлежностям относятся аналитические детекторы или насадки для манипуляций с образцами in-situ (растяжение ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
SU3800/3900 Family

Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm

... Семейство SU3800/3900 VP-SEM ориентировано на производительность. Эти инструменты автоматизируют повторяющиеся задачи, что позволяет получить воспроизводимые результаты за короткое время при минимальных затратах ручного труда. Предлагаются ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
FlexSEM II

Увеличение : 6, 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4 nm

... FlexSEM II - это настольный/компактный РЭМ для задач визуализации, выходящих за рамки возможностей обычных настольных РЭМ. Это идеальная система для тех, кто не хочет вкладывать деньги в классический РЭМ, но при этом не хочет идти на ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп ПРЭМ
микроскоп ПРЭМ
HF5000

Увеличение : 20 unit - 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,08, 0,1 nm

... HF5000 - это S/TEM с Cs-коррекцией, настраиваемый для экспериментов in-situ. Особенность прибора заключается в использовании детектора Everhart Thornley SE, который позволяет получать изображение поверхности образца при напряжении 60-200 ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп TEM
микроскоп TEM
HT7800 Series

Увеличение : 1 000 000, 800 000, 600 000 unit
Пространственное разрешение: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... Семейство HT7800 поддерживает широкий спектр приложений, от биологических наук до материаловедения. Они доступны в трех различных вариантах полюсных насадок, всегда основанных на нашей запатентованной объективной линзе для быстрого переключения ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп FE-SEM
микроскоп FE-SEM
SU3800SE/SU3900SE

Увеличение : 5 unit - 600 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 2,5 nm

... РЭМы Hitachi SU3800SE и SU3900SE представляют собой универсальные решения для получения изображений и анализа в различных областях применения. Эти приборы обеспечивают высокое разрешение изображений, интуитивно понятную навигацию и передовую ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп FIB/SEM
микроскоп FIB/SEM
NX5000

Увеличение : 0 unit
Пространственное разрешение: 4, 60 nm

... ионным током до 100 нА и хорошими низковольтными свойствами для быстрых FIB-срезов и малоповреждаемых поверхностей ламелей TEM - Большая камера для образцов со столиком для образцов 155x155 мм2 и множеством точек доступа ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп FIB/SEM
микроскоп FIB/SEM
NX9000

Пространственное разрешение: 2,1, 1,6 nm

... Новая разработка компании Hitachi - система FIB-SEM NX9000 - имеет оптимизированную компоновку для серийного секционирования с высоким разрешением, что позволяет решать самые современные задачи трехмерного структурного анализа, а также ...

презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки