Микроскопы высокое разрешение HITACHI

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,6, 0,9 nm

... Электронно- микроскопы Шоттки с полевой эмиссией (FE-SEM) для визуализации со сверхвысоким разрешением и аналитических исследований Идеальное решение для пользователей, которым требуются как визуализация со сверхвысоким ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7, 0,6 nm

... изображений высокого разрешения. Последние разработки в области конструкции электронных пушек обеспечивают более высокую стабильность облучения электронным пучком в области высокой яркости. ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,9 nm

... Современный FE-SEM требует не только высокой производительности, но и множества функциональных возможностей, включая широкоугольное наблюдение, анализ in situ, регулируемое давление, визуализацию с высоким разрешением ...

Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm

... получения стабильных результатов высокого качества Предназначены для широкого спектра задач Серия Hitachi SU3800/3900 представляет собой модульную, удобную в использовании платформу сканирующих электронных микроскопов ...

Увеличение : 6, 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4 nm

... традиционного электронного микроскопа в более компактном и простом в эксплуатации настольном исполнении. Благодаря визуализации с высоким разрешением и ряду адаптируемых функций, таких как встроенный ...

Увеличение : 10 unit - 250 000 unit
Длина: 617 mm

... образцов Высокое разрешение, большая глубина резкости и многорежимная визуализация Удобная навигация благодаря встроенной оптической камере Планирование технического обслуживания с мониторингом нити накала Сканирующий ...

Увеличение : 20 unit - 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,08, 0,1 nm

... производительности в реальных лабораторных условиях Широкий ассортимент передовых держателей образцов Hitachi* Холодный FEG высокой яркости × Высокая стабильность × Автоматический корректор аберраций Hitachi Новый ...

Увеличение : 1 000 000, 800 000, 600 000 unit
Пространственное разрешение: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... просвечивающего электронного микроскопа (TEM) БЕЗГРАНИЧНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ: Разнообразные области применения, охватывающие широкий спектр научных и технологических направлений Одновременное обеспечение высокого разрешения ...

Увеличение : 5 unit - 600 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 2,5 nm

... электронные микроскопы (SEM), разработанные для обеспечения высокой производительности, работы с крупногабаритными образцами и удобной автоматизации процессов визуализации в научных учреждениях и промышленности. Сканирующие ...

Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 1,2, 0,4 nm

... сочетание РЭМ для визуализации поверхности и сканирующего просвечивающего микроскопа (STEM) с разрешением по внутренним структурам, оптимизированное для экстремального разрешения. Это стало возможным ...