Микроскоп SEM JSM-IT800
для лабораторий3Dнастольный

микроскоп SEM
микроскоп SEM
микроскоп SEM
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
SEM
Применение
для лабораторий
Метод наблюдения
3D
Конфигурация
настольный
Пространственное разрешение

МИН.: 0,5 nm

МАКС.: 3 nm

Описание

JSM-IT800, автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки с энергодисперсионным рентгеновским спектрометром (EDS) JEOL в стандартной комплектации, полностью интегрирован с новым графическим интерфейсом «SEM Center», что позволяет осуществлять непрерывный сбор данных от наблюдения до элементного анализа. Усовершенствованная и интегрированная высокая производительность и простота использования повысили эффективность работы более чем на 50%, сделав ежедневные измерения высокопроизводительными. Гибридная версия объектива (HL)/Супергибридная версия объектива (SHL) На основе комбинации электростатической линзы и линзы электромагнитного поля доступны два типа версий линз объектива. Различные конфигурации позволяют удовлетворить более широкий спектр потребностей пользователей, обеспечивая получение изображений с высоким пространственным разрешением и анализ широкого спектра образцов, от магнитных материалов до изоляторов, сохраняя при этом те же функции, что и JSM-IT800.

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Jeol

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

Analytica China 2024
Analytica China 2024

18-20 нояб. 2024 Shanghai (Китай)

  • Дополнительная информация
    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.