Программное обеспечение для сканирующего электронного микроскопа SMILE VIEW™
для улучшения изображенийдля визуализации 3Dдля составления отчетности

программное обеспечение для сканирующего электронного микроскопа
программное обеспечение для сканирующего электронного микроскопа
программное обеспечение для сканирующего электронного микроскопа
программное обеспечение для сканирующего электронного микроскопа
программное обеспечение для сканирующего электронного микроскопа
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Применение
для сканирующего электронного микроскопа
Функция
для улучшения изображений, для визуализации 3D, для составления отчетности

Описание

SMILE VIEW™ Map предоставляет пользователям доступ к обширному набору инструментов для визуализации, анализа и отчетности по своим данным, включая: Особенности Сверхбыстрая 3D-реконструкция топографии поверхности по одному или нескольким изображениям РЭМ 3D-визуализация при любом уровне масштабирования и под любым углом, а также метрология поверхности Улучшение изображения и раскрашивание: от черно-белого до цветного всего за несколько кликов Характеристика шероховатости и текстуры поверхности в соответствии со всеми последними стандартами (ISO, JIS, ASME и т.д.) Простое создание отчетов: превращайте данные в точные визуальные аналитические отчеты и экспортируйте их в стандартные форматы. Интуитивно понятный интерактивный рабочий процесс для повышения производительности «SMile View™ Map — это высокоточный инструмент для визуализации, анализа и метрологии данных SEM. Он значительно улучшит качество обслуживания клиентов в широком диапазоне приложений. Digital Surf гордится тем, что служит сообществу JEOL SEM по всему миру. Помогая пользователям получать больше Извлечение данных из своих инструментов лежит в основе философии Digital Surf. Благодаря SMile ViewTM Map пользователи JEOL теперь имеют под рукой широкий спектр инструментов, объединенных в одном простом в использовании программном интерфейсе».

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Jeol

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

Analytica China 2024
Analytica China 2024

18-20 нояб. 2024 Shanghai (Китай)

  • Дополнительная информация
    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.