Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) являются незаменимыми инструментами не только для научных исследований, но и для контроля качества и производственных площадок.
На этих объектах одни и те же процессы наблюдения должны выполняться многократно, и возникла необходимость в повышении эффективности этого процесса.
В JSM-IT510 недавно добавленная функция Simple SEM позволяет пользователям "оставить ручную повторяющуюся операцию", необходимую для наблюдения SEM, что делает наблюдение SEM более эффективным и простым.
Функции
Простой SEM
Просто выберите целевое поле
Simple SEM поддерживает ежедневную рутинную работу.
Specimen Exchange Navi
Руководство от замены образца до автоматического наблюдения
Безопасно и просто! Specimen Exchange Navi
Увеличение оптического изображения *1, переход к изображению SEM
Функция Zeromag упрощает навигацию, обеспечивая плавный переход от оптического изображения к изображению SEM.
Изображение SEM, оптическое изображение и график держателя связаны между собой для глобального просмотра мест анализа.
Встроенный EDS для определения элементного состава в режиме реального времени во время наблюдения
Live Analysis - это функция, которая отображает спектр EDS или карты элементов в режиме реального времени во время наблюдения изображения. Эта функция может поддерживать поиск и обеспечивать предупреждение о наличии целевых элементов.
Разнообразные расширенные опции
Низковакуумный гибридный детектор вторичных электронов (LHSED)*
LHSED является дополнительной опцией. Также требуется LV (низкий вакуум) или L A (низкий вакуум и анализ).
Живое 3D *
Изображения, полученные с помощью нового квадрантного BE-детектора*, могут быть отображены в виде живого 3D-изображения.
3D-изображения могут четко отображать форму образца, даже в тех случаях, когда имеется тонкая топографическая информация.
---