＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 1,2, 0,4 nm
... SU9000 II - это сочетание РЭМ для визуализации поверхности и сканирующего просвечивающего микроскопа (STEM) с разрешением по внутренним структурам, оптимизированное для экстремального разрешения. Это стало возможным благодаря ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,9 nm
... SU7000 идеально подходит для работы с большими или тяжелыми образцами и для интеграции широкого спектра аксессуаров. К таким принадлежностям относятся аналитические детекторы или насадки для манипуляций с образцами in-situ (растяжение ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 20 unit - 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,08, 0,1 nm
... HF5000 - это S/TEM с Cs-коррекцией, настраиваемый для экспериментов in-situ. Особенность прибора заключается в использовании детектора Everhart Thornley SE, который позволяет получать изображение поверхности образца при напряжении 60-200 ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 1 000 000, 800 000, 600 000 unit
Пространственное разрешение: 0,19, 0,14, 0,2 nm
... изображения "полная сетка" - Удобное управление на экране с помощью полностью интегрированной цифровой обзорной CMOS-камеры со скоростью >30 изображений в секунду вместо бикуляра - Источник электронов вольфрамовый или ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,4, 0,7 nm
... Источник излучения холодного поля идеально подходит для получения изображений высокого разрешения при малом размере источника и разбросе энергии. Инновационная технология CFE Gun позволяет создать идеальный FE-SEM с превосходной яркостью ...
Hitachi High-Technologies
Пространственное разрешение: 0,3 nm
... это платформа для зондовой микроскопии нового поколения от Hitachi. Системы AFM100 Plus и AFM100, входящие в эту серию, были разработаны для расширения возможностей и повышения производительности атомно-силовой микроскопии, ...
Hitachi High-Technologies
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось