Микроскопы для лабораторий HITACHI

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,6, 0,9 nm

... Электронно- микроскопы Шоттки с полевой эмиссией (FE-SEM) для визуализации со сверхвысоким разрешением и аналитических исследований Идеальное решение для пользователей, которым требуются как визуализация со сверхвысоким разрешением, так ...

Увеличение : 6, 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4 nm

... Автоматизированное и удобное управление Электронный микроскоп FlexSEM II VP-SEM разработан для исследователей и руководителей лабораторий, которым требуются возможности традиционного электронного микроскопа ...

Увеличение : 10 unit - 250 000 unit
Длина: 617 mm

... Сканирующий электронный микроскоп Hitachi TM4000PlusIII представляет собой компактное и удобное в использовании решение для визуализации и элементного анализа. Разработанный для широкого круга пользователей — от исследовательских лабораторий ...

Увеличение : 20 unit - 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,08, 0,1 nm

... телесным углом — и все это в конфигурации с одним объективом. Модель HF5000 основана на особенностях специализированного STEM- микроскопа Hitachi HD-2700, включая собственный полностью автоматизированный корректор аберраций Hitachi, симметричный ...

Увеличение : 1 000 000, 800 000, 600 000 unit
Пространственное разрешение: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... Серия HT7800 представляет собой трансмиссионный электронный микроскоп (ТЭМ) с напряжением 120 кВ, сочетающий в себе высокое качество и воспроизводимость сбора данных с повышенной эффективностью проведения наблюдательных работ. Благодаря ...

Увеличение : 5 unit - 600 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 2,5 nm

... промышленными материалами, эти сканирующие электронные микроскопы обеспечат вам универсальность и стабильность, необходимые для достижения целей вашей лаборатории. Идеально подходящие как для исследовательских лабораторий, ...

Пространственное разрешение: 60, 4 nm

... Система Hitachi Ethos FIB-SEM включает в себя электронно- микроскоп с полевой эмиссией (FE-SEM) последнего поколения, отличающийся превосходной яркостью и стабильностью пучка. Система Ethos обеспечивает получение изображений высокого разрешения ...

Пространственное разрешение: 1,6, 2,1, 4 nm

... , полученные с помощью NX9000, позволяют проводить высокоточный трехмерный структурный анализ. Оптическая коррелятивная микроскопия может легко применяться благодаря преимуществам плоскоповерхностной электронно-микроскопической визуализации. Cut&See ...

Пространственное разрешение: 2,8, 60, 4, 3,5 nm

... NX2000 - это FIB-SEM, оптимизированный для применения в полупроводниковой промышленности (анализ дефектов с импортом координат KLARF, извлечение ламелей из ТЕМ, разработка устройств). Благодаря перемещению 205 x 205 мм по осям X,Y стойка для образца позволяет ...