- Лабораторное дело
- Медицинская лаборатория
- Микроскоп SEM
- Hitachi High-Tech Europe GmbH
Микроскоп FIB/SEM NX2000SEMФИП/FIBдля контроля
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
- Тип
- SEM, ФИП/FIB
- Применение
- для лабораторий, для исследований, для контроля
- Метод наблюдения
- SIM
- Конфигурация
- напольный
- Источник электронов
- с холодной полевой эмиссией
- Тип детектора
- обратно-рассеянных электронов, вторичных электронов
- Пространственное разрешение
2,8 nm, 3,5 nm, 4 nm, 60 nm
Описание
NX2000 - это FIB-SEM, оптимизированный для применения в полупроводниковой промышленности (анализ дефектов с импортом координат KLARF, извлечение ламелей из ТЕМ, разработка устройств). Благодаря перемещению 205 x 205 мм по осям X,Y стойка для образца позволяет обрабатывать даже 200-миллиметровые пластины без вращения образца. Вертикально установленный Ga FIB обеспечивает ионный ток до 100 нА при напряжении 30 кВ. Колонна FE-SEM оснащена излучателем холодного поля.
---
Каталоги
Product Catalogue: SEM, FIB, BIB, TEM
31 Страницы
Салоны
Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)
Другие изделия Hitachi High-Tech Europe GmbH
FOCUSED ION BEAM SYSTEMS (FIB/FIB-SEM)
Расширенный поиск
- Микроскоп
- Микроскоп для лабораторий
- Микроскоп для письменного стола
- Биологически чистый микроскоп
- Микроскоп для исследований
- Микроскоп с высоким разрешением
- Компактный микроскоп
- Медицинский микроскоп
- Микроскоп для контроля
- Микроскоп темного поля
- Микроскоп 3D
- Многоцелевой микроскоп
- Напольный микроскоп
- Микроскоп SEM
- Микроскоп для испытания материалов
- Микроскоп сверхразрешения
- Микроскоп TEM
- Микроскоп ПРЭМ
- Автоматизированный микроскоп
- Микроскоп FE-SEM
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.