Микроскопы для лабораторий HITACHI

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,6 nm

... Стандартно оснащенный 150-миллиметровым шлюзом для образцов, SU8700 обеспечивает высокую пропускную способность даже для больших образцов и постоянно чистую среду камеры для образцов, что позволяет получать изображения с низким уровнем ...

Увеличение : 6, 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4 nm

... FlexSEM II - это настольный/компактный РЭМ для задач визуализации, выходящих за рамки возможностей обычных настольных РЭМ. Это идеальная система для тех, кто не хочет вкладывать деньги в классический РЭМ, но при этом не хочет идти на ...

Увеличение : 10 unit - 250 000 unit
Длина: 617 mm

... логическое продолжение оптической стереомикроскопии, TM4000 III является прибором начального уровня для сканирующей электронной микроскопии. Он позволяет получать изображения образцов в кратчайшие сроки с хорошим разрешением, ...

Увеличение : 20 unit - 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,08, 0,1 nm

... HF5000 - это S/TEM с Cs-коррекцией, настраиваемый для экспериментов in-situ. Особенность прибора заключается в использовании детектора Everhart Thornley SE, который позволяет получать изображение поверхности образца при напряжении 60-200 ...

Увеличение : 1 000 000, 800 000, 600 000 unit
Пространственное разрешение: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... Семейство HT7800 поддерживает широкий спектр приложений, от биологических наук до материаловедения. Они доступны в трех различных вариантах полюсных насадок, всегда основанных на нашей запатентованной объективной линзе для быстрого переключения ...

Увеличение : 5 unit - 600 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 2,5 nm

... рецепты наблюдений обеспечивают стабильные и качественные результаты при минимальных затратах, что идеально подходит для лабораторий, ориентированных на эффективность. ...

Увеличение : 0 unit
Пространственное разрешение: 4, 60 nm

... ионным током до 100 нА и хорошими низковольтными свойствами для быстрых FIB-срезов и малоповреждаемых поверхностей ламелей TEM - Большая камера для образцов со столиком для образцов 155x155 мм2 и множеством точек доступа ...

Пространственное разрешение: 1,6, 2,1, 4 nm

... В этой уникальной системе колонки Ga-FIB и FE-SEM расположены под прямым углом друг к другу. Такая конфигурация идеально подходит для приложений, где необходимо анализировать большие объемы (биологические ткани, материалы с крупнозернистой ...

Пространственное разрешение: 2,8, 60, 4, 3,5 nm

... NX2000 - это FIB-SEM, оптимизированный для применения в полупроводниковой промышленности (анализ дефектов с импортом координат KLARF, извлечение ламелей из ТЕМ, разработка устройств). Благодаря перемещению 205 x 205 мм по осям X,Y стойка ...