Технология сверхразрешения DeepSIM основана на многоточечном структурированном освещении и представляет собой надежное и доступное решение для изучения субклеточных структур с XY-разрешением 100 нм. Система сверхразрешения DeepSIM проста в использовании и позволяет ученым получать глубокие данные из биологических образцов, не требуя специальной пробоподготовки или красителей.
Ключевые характеристики
Разрешение
В основе DeepSIM лежит надежная технология многоточечной решетки SIM, позволяющая достичь разрешения 100 нм по оси XY, что в 2 раза больше пространственного разрешения по сравнению с микроскопией широкого поля
Толщина образца
DeepSIM предназначен для работы с образцами, толщина которых сопоставима с толщиной образцов, используемых в конфокальной микроскопии, и позволяет получать сверхразрешенные данные на глубине 50 мкм в неосветленных образцах. Таким образом, даже нативные, гетерогенные и сложные образцы могут быть исследованы более тщательно.
Многоточечная решетка SIM идеально подходит для быстрого получения живых изображений
DeepSIM позволяет без труда изучать динамику живых клеток благодаря временному разрешению более 10 кадров в секунду (1024×1024), что дает возможность отслеживать биологические изменения на клеточном и субклеточном уровнях. Кроме того, можно тщательно исследовать деликатные образцы, поскольку DeepSIM минимизирует воздействие света и, следовательно, риск фототоксичности.
Совместимость с широким диапазоном увеличений объективов
Двукратное увеличение пространственного разрешения может быть получено при использовании объективов как с большим (60Х, 100Х), так и с малым (20Х, 40Х) увеличением. Эта особенность расширяет спектр возможных применений, включая сложные 3D-модели, такие как ткани, органоиды, сфероиды и небольшие организмы.
---