Настольные микроскопы Bright

Пространственное разрешение: 0,1, 0,11, 0,25, 0,07, 0,16 nm

... улучшенный ABF), облегчающего наблюдение материалов легких элементов даже при низких ускоряющих напряжениях. Комната с микроскопом отделена от операционной, чтобы можно было выполнять удаленные операции. Кроме того, были приняты новые ...

Увеличение : 10 unit - 1 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,2, 0,14 nm

... удовлетворить эти потребности, новый электронный микроскоп JEM-120Flash на 1400 кВ оснащен высокочувствительной sCMOS-камерой, системой сверхширокоугольного монтажа и функцией связывания изображений OM (оптический микроскоп). Особенности Высокочувствительная ...

Увеличение : 50 unit - 1 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0,2, 0,14 nm
Ширина: 840 mm

... Трансмиссионные электронные микроскопы (ТЭМ) с ускоряющим напряжением 120 кВ широко используются в области мягких материалов, таких как биология и полимеры. Мы недавно разработали JEM-120i с концепцией "Компактный", "Простой в использовании" ...

... Универсальность и высокое пространственное разрешение сочетаются с автоматизацией при использовании FE-SEM серии JSM-IT810. Автоматизация получения изображений и EDS-анализа без кодирования встроена для упрощения и повышения эффективности рабочего процесса. Новые ...

Пространственное разрешение: 0,5 nm - 3 nm

... JSM-IT800, автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки с энергодисперсионным рентгеновским спектрометром (EDS) JEOL в стандартной комплектации, полностью интегрирован с новым графическим интерфейсом «SEM Center», что позволяет ...

... Настольные сканирующие электронные микроскопы используются в самых разных областях — электротехнике, электронике, автомобилестроении, машиностроении, химической и фармацевтической промышленности. Область применения таких ...

Увеличение : 150, 10 000, 100, 500, 5 000 unit
Пространственное разрешение: 3, 15 nm

... Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) являются незаменимыми инструментами не только для исследований, но и для контроля качества и производственных площадок. На этих сценах одни и те же процессы наблюдения должны выполняться неоднократно, ...

Увеличение : 20 unit - 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 4 nm

Успехи в разработке новых материалов со сложной наноструктурой предъявляют повышенные требования к приборам FIB-SEM в отношении исключительного разрешения, точности и производительности. В ответ компания JEOL разработала многолучевую систему JIB-4700F ...