Микроскопы обратно-рассеянных электронов HITACHI

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,6 nm

... EDX-анализ и получение изображений высокого разрешения со всеми детекторами возможны при рабочем расстоянии 6 мм - Надежные автоматические функции, такие как адаптация к заданным пользователем оптическим условиям или 2D автофокус и автостигматор, ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7, 0,6 nm

... пучка до 30 кэВ и на минимальных рабочих расстояниях от 4 мм благодаря магнитной иммерсионной линзе. Или вы можете объединить SEM с детектором Bruker FlatQuad EDX с телесным углом более 1sr для максимальной эффективности сигнала. Доступны ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,9 nm

... сжатие, нагрев / охлаждение, зондирование, серийные срезы микротома и т. д.). Как и SU8700, SU7000 оснащен универсальной электронной оптикой Hitachi с высоким разрешением и отсутствием поля (состоящей из эмиттера Шоттки и усилителя пучка) ...

Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm

... продукта: - Высокоэффективные детекторы Hitachi: -- Детектор вторичных электронов для высокого вакуума -- 5-сегментный полупроводниковый детектор обратнорассеянных электронов для высокого и низкого ...

Увеличение : 6, 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4 nm

... Особенности продукта: - 4 нм @ 20 кВ Электронная оптика высокого разрешения с энергией пучка от 300 до 20 кэВ - Высокий и регулируемый низкий вакуум до 100 Па - Стандартный SE и 4+1 сегментный детектор обратного рассеяния, ...

Увеличение : 10 unit - 250 000 unit
Длина: 617 mm

... зонда для каждого - Оптическая цветная навигационная камера - 3 ступени давления в камере - 4-сегментный детектор обратно рассеянных электронов - Считывание тока зонда и функция IFT ...

Пространственное разрешение: 2,8, 60, 4, 3,5 nm

... NX2000 - это FIB-SEM, оптимизированный для применения в полупроводниковой промышленности (анализ дефектов с импортом координат KLARF, извлечение ламелей из ТЕМ, разработка устройств). Благодаря перемещению 205 x 205 мм по осям X,Y стойка для образца позволяет ...