＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Увеличение : 2 000 unit - 1 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,1 nm - 0,31 nm
... JEM-2200FS, современный аналитический электронный микроскоп, оснащен автоэмиссионной пушкой (FEG) на 200 кВ и энергетическим фильтром в колонке (омега-фильтр), который позволяет получить изображение с нулевыми потерями, где неупругие ...
Jeol
... оборудование в оптимальном состоянии. Функция Live- 3 D Выберите наш многосегментный полупроводниковый детектор BSE для создания 3 D-реконструкции поверхности образца в реальном времени. Просматривайте ...
Jeol
Пространственное разрешение: 0,5 nm - 3 nm
... JSM-IT800, автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки с энергодисперсионным рентгеновским спектрометром (EDS) JEOL в стандартной комплектации, полностью интегрирован с новым графическим интерфейсом «SEM Center», что позволяет ...
Jeol
... поиска составных элементов в области наблюдения и «Live 3D» для отображения реконструированного живого 3 D-изображения во время наблюдения SEM. Поместив JCM-7000 рядом с оптическим микроскопом, ...
Jeol
Увеличение : 150, 10 000, 100, 500, 5 000 unit
Пространственное разрешение: 3, 15 nm
... Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) являются незаменимыми инструментами не только для исследований, но и для контроля качества и производственных площадок. На этих сценах одни и те же процессы наблюдения должны выполняться неоднократно, ...
Jeol
Увеличение : 20 unit - 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 4 nm
Успехи в разработке новых материалов со сложной наноструктурой предъявляют повышенные требования к приборам FIB-SEM в отношении исключительного разрешения, точности и производительности. В ответ компания JEOL разработала многолучевую систему JIB-4700F ...
Jeol
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки